नमूना की क्षमता उपाय

चरण 0: पूर्व-गणना सारांश
प्रयुक्त सूत्र
ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता = (समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता*(इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र*[Permitivity-vacuum]))/(इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी)
Cs = (εr*(A*[Permitivity-vacuum]))/(d)
यह सूत्र 1 स्थिरांक, 4 वेरिएबल का उपयोग करता है
लगातार इस्तेमाल किया
[Permitivity-vacuum] - निर्वात की पारगम्यता मान लिया गया 8.85E-12
चर
ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता - (में मापा गया फैरड) - ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता को दिए गए नमूने या दिए गए इलेक्ट्रॉनिक घटक की धारिता के रूप में परिभाषित किया गया है।
समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता - समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता वैक्यूम या हवा की तुलना में चुंबकीय क्षेत्र रेखाओं को केंद्रित करने के लिए दो समानांतर प्लेटों के बीच रखी गई सामग्री की क्षमता का एक माप है।
इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र - (में मापा गया वर्ग मीटर) - इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र इलेक्ट्रोड सामग्री का वह क्षेत्र है जो इलेक्ट्रोलाइट तक पहुंच योग्य है जिसका उपयोग चार्ज ट्रांसफर और/या भंडारण के लिए किया जाता है।
इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी - (में मापा गया मीटर) - इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी दो इलेक्ट्रोड के बीच का स्थान है।
चरण 1: इनपुट को आधार इकाई में बदलें
समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता: 1.5 --> कोई रूपांतरण आवश्यक नहीं है
इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र: 13 वर्ग मीटर --> 13 वर्ग मीटर कोई रूपांतरण आवश्यक नहीं है
इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी: 9.5 मीटर --> 9.5 मीटर कोई रूपांतरण आवश्यक नहीं है
चरण 2: फॉर्मूला का मूल्यांकन करें
फॉर्मूला में इनपुट वैल्यू को तैयार करना
Cs = (εr*(A*[Permitivity-vacuum]))/(d) --> (1.5*(13*[Permitivity-vacuum]))/(9.5)
मूल्यांकन हो रहा है ... ...
Cs = 1.81657894736842E-11
चरण 3: परिणाम को आउटपुट की इकाई में बदलें
1.81657894736842E-11 फैरड -->1.81657894736842E-05 माइक्रोफ़ारड (रूपांतरण की जाँच करें ​यहाँ)
आख़री जवाब
1.81657894736842E-05 1.8E-5 माइक्रोफ़ारड <-- ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता
(गणना 00.004 सेकंड में पूरी हुई)

क्रेडिट

Creator Image
के द्वारा बनाई गई शोभित डिमरी
बिपिन त्रिपाठी कुमाऊँ प्रौद्योगिकी संस्थान (BTKIT), द्वाराहाट
शोभित डिमरी ने इस कैलकुलेटर और 900+ अधिक कैलकुलेटर को बनाए है!
Verifier Image
के द्वारा सत्यापित उर्वी राठौड़
विश्वकर्मा गवर्नमेंट इंजीनियरिंग कॉलेज (वीजीईसी), अहमदाबाद
उर्वी राठौड़ ने इस कैलकुलेटर और 1900+ को अधिक कैलकुलेटर से सत्यापित किया है!

25 लंबित कैलक्युलेटर्स

स्रोत वोल्टेज
​ जाओ स्रोत वोल्टेज = (1/संभावित अंतर)*(1-exp(-समय/प्रतिरोध*समाई))
क्षमता भर में वोल्टेज
​ जाओ संभावित अंतर = स्रोत वोल्टेज*(1-exp(-समय/प्रतिरोध*समाई))
सी और डी . के बीच वोल्टेज अंतर
​ जाओ संभावित अंतर = (विक्षेपण कोण*(180/pi))/गैल्वेनोमीटर की वोल्टेज संवेदनशीलता
चमकदार प्रवाह वस्तु द्वारा प्रेषित
​ जाओ ऑब्जेक्ट ओप द्वारा प्रेषित चमकदार प्रवाह = ट्रांसमिशन फैक्टर*वस्तु पर चमकदार प्रवाह घटना
वस्तु पर चमकदार प्रवाह घटना
​ जाओ ऑब्जेक्ट ओप पर चमकदार प्रवाह घटना = वस्तु द्वारा प्रेषित चमकदार प्रवाह/ट्रांसमिशन फैक्टर
डिटेक्टर की आरएमएस घटना शक्ति
​ जाओ डिटेक्टर की आरएमएस घटना शक्ति = रूट मीन स्क्वायर वोल्टेज सीडी/डिटेक्टर सीडी की जवाबदेही
RMS आउटपुट वोल्ट डिटेक्टर
​ जाओ रूट माध्य वर्ग वोल्टेज आउटपुट = डिटेक्टर की जवाबदेही*डिटेक्टर की आरएमएस घटना शक्ति
क्रांति की संख्या
​ जाओ क्रांति की संख्या ने ऑप बनाया = किलोवाट-घंटे में क्रांति*ऊर्जा दर्ज की गई BM1
आर्द्रता अनुपात
​ जाओ आंतरिक आर्द्रता अनुपात Op = मिश्रण में जल वाष्प का द्रव्यमान/गैस का द्रव्यमान
फुल-स्केल रीडिंग में करंट
​ जाओ फुल-स्केल रीडिंग पर वर्तमान = पूर्ण पैमाने पर वोल्टेज पढ़ना/मीटर का प्रतिरोध
प्रतिबिंब कारक
​ जाओ परावर्तन कारक Op = परावर्तित चमकदार प्रवाह/घटना चमकदार प्रवाह संवेदनशीलता
विक्षेपण प्लेट के बीच विभव
​ जाओ विद्युत विभवान्तर = चुंबकीय विक्षेपण संवेदनशीलता/स्क्रीन पर विक्षेपण
लाइन वोल्टेज
​ जाओ लाइन वोल्टेज आउटपुट = पोटेंशियोमीटर वोल्टेज*वोल्टेज प्रभाग अनुपात
सेल का आरएमएस शोर वोल्टेज
​ जाओ सेल आउटपुट का आरएमएस शोर वोल्टेज = डिटेक्टर की जवाबदेही*जासूसी
Photoelectric संवेदनशीलता
​ जाओ फोटोइलेक्ट्रिक संवेदनशीलता = फोटोइलेक्ट्रिक करंट/चमकदार प्रवाह
फोटोइलेक्ट्रिक करंट
​ जाओ फोटोइलेक्ट्रिक करंट = चमकदार प्रवाह*फोटोइलेक्ट्रिक संवेदनशीलता
पता लगाने की क्रिया
​ जाओ जासूस ऑप = सेल का आरएमएस शोर वोल्टेज/डिटेक्टर की जिम्मेदारी
वेवफॉर्म के पीक से पीक वोल्टेज
​ जाओ पीक वोल्टेज = वोल्ट प्रति डिवीजन*वर्टिकल पीक टू पीक डिवीजन
वास्तविक आर्द्रता
​ जाओ वास्तविक आर्द्रता = संतृप्त आर्द्रता 1*सापेक्षिक आर्द्रता
संतृप्त आर्द्रता
​ जाओ संतृप्त आर्द्रता 1 = वास्तविक आर्द्रता/सापेक्षिक आर्द्रता
उच्च तापमान
​ जाओ तापमान में वृद्धि 1 = तापमान अंतराल/दक्षता उच्च तापमान
तापमान अंतराल
​ जाओ अस्थायी अंतर = तापमान में वृद्धि*दक्षता तापमान अंतर
मीटर का औसत भार
​ जाओ औसत भार = औसत मासिक लोड फैक्टर*अधिकतम मांग सीडी
अधिकतम मांग
​ जाओ अधिकतम मांग सीडी = औसत भार/औसत मासिक लोड फैक्टर
औसत मासिक लोड कारक
​ जाओ औसत मासिक भार कारक Op = औसत भार/अधिकतम मांग

नमूना की क्षमता सूत्र

ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता = (समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता*(इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र*[Permitivity-vacuum]))/(इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी)
Cs = (εr*(A*[Permitivity-vacuum]))/(d)

शीतलन प्रशंसकों की आवश्यकता क्यों है?

शीतलन प्रशंसकों का उपयोग स्विच के विद्युत भागों में प्रक्रिया माध्यम की गर्मी के हस्तांतरण को रोकने के लिए किया जाता है और उपयुक्त सीमा के भीतर उनके तापमान को बनाए रखता है।

नमूना की क्षमता की गणना कैसे करें?

नमूना की क्षमता के लिए ऑनलाइन कैलकुलेटर पर, कृपया समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता (εr), समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता वैक्यूम या हवा की तुलना में चुंबकीय क्षेत्र रेखाओं को केंद्रित करने के लिए दो समानांतर प्लेटों के बीच रखी गई सामग्री की क्षमता का एक माप है। के रूप में, इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र (A), इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र इलेक्ट्रोड सामग्री का वह क्षेत्र है जो इलेक्ट्रोलाइट तक पहुंच योग्य है जिसका उपयोग चार्ज ट्रांसफर और/या भंडारण के लिए किया जाता है। के रूप में & इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी (d), इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी दो इलेक्ट्रोड के बीच का स्थान है। के रूप में डालें। कृपया नमूना की क्षमता गणना को पूर्ण करने के लिए कैलकुलेट बटन का उपयोग करें।

नमूना की क्षमता गणना

नमूना की क्षमता कैलकुलेटर, ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता की गणना करने के लिए Capacitance of Specimen as Dielectric = (समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता*(इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र*[Permitivity-vacuum]))/(इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी) का उपयोग करता है। नमूना की क्षमता Cs को नमूना फार्मूले के कैपेसिटेंस को दिए गए नमूने के कैपेसिटेंस या दिए गए इलेक्ट्रॉनिक घटक के रूप में परिभाषित किया गया है, जिसकी सापेक्ष पारगम्यता की गणना की जानी है। के रूप में परिभाषित किया गया है। यहाँ नमूना की क्षमता गणना को संख्या में समझा जा सकता है - 18.16579 = (1.5*(13*[Permitivity-vacuum]))/(9.5). आप और अधिक नमूना की क्षमता उदाहरण यहाँ देख सकते हैं -

FAQ

नमूना की क्षमता क्या है?
नमूना की क्षमता नमूना फार्मूले के कैपेसिटेंस को दिए गए नमूने के कैपेसिटेंस या दिए गए इलेक्ट्रॉनिक घटक के रूप में परिभाषित किया गया है, जिसकी सापेक्ष पारगम्यता की गणना की जानी है। है और इसे Cs = (εr*(A*[Permitivity-vacuum]))/(d) या Capacitance of Specimen as Dielectric = (समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता*(इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र*[Permitivity-vacuum]))/(इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी) के रूप में दर्शाया जाता है।
नमूना की क्षमता की गणना कैसे करें?
नमूना की क्षमता को नमूना फार्मूले के कैपेसिटेंस को दिए गए नमूने के कैपेसिटेंस या दिए गए इलेक्ट्रॉनिक घटक के रूप में परिभाषित किया गया है, जिसकी सापेक्ष पारगम्यता की गणना की जानी है। Capacitance of Specimen as Dielectric = (समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता*(इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र*[Permitivity-vacuum]))/(इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी) Cs = (εr*(A*[Permitivity-vacuum]))/(d) के रूप में परिभाषित किया गया है। नमूना की क्षमता की गणना करने के लिए, आपको समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता (εr), इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र (A) & इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी (d) की आवश्यकता है। हमारे टूल के द्वारा, आपको समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता वैक्यूम या हवा की तुलना में चुंबकीय क्षेत्र रेखाओं को केंद्रित करने के लिए दो समानांतर प्लेटों के बीच रखी गई सामग्री की क्षमता का एक माप है।, इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र इलेक्ट्रोड सामग्री का वह क्षेत्र है जो इलेक्ट्रोलाइट तक पहुंच योग्य है जिसका उपयोग चार्ज ट्रांसफर और/या भंडारण के लिए किया जाता है। & इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी दो इलेक्ट्रोड के बीच का स्थान है। के लिए संबंधित मान दर्ज करने और कैलकुलेट बटन को क्लिक करने की आवश्यकता है।
ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता की गणना करने के कितने तरीके हैं?
ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता समानांतर प्लेट सापेक्ष पारगम्यता (εr), इलेक्ट्रोड का प्रभावी क्षेत्र (A) & इलेक्ट्रोड के बीच की दूरी (d) का उपयोग करता है। हम गणना करने के 1 अन्य तरीकों का उपयोग कर सकते हैं, जो इस प्रकार हैं -
  • ढांकता हुआ के रूप में नमूने की धारिता = (प्रभावी धारिता*नमूनों के बीच रिक्त स्थान के कारण धारिता)/(प्रभावी धारिता-नमूनों के बीच रिक्त स्थान के कारण धारिता)
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