अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड उपाय

चरण 0: पूर्व-गणना सारांश
प्रयुक्त सूत्र
अंतर्जात क्षय गुणांक = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय
kd = (Yobs-Y)/θc
यह सूत्र 4 वेरिएबल का उपयोग करता है
चर
अंतर्जात क्षय गुणांक - (में मापा गया 1 प्रति सेकंड) - अंतर्जात क्षय गुणांक एमएलवीएसएस में कोशिका द्रव्यमान में कमी का प्रतिनिधित्व करने वाला एक गुणांक है।
मनाया सेल यील्ड - ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड, हटाए गए प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ में उत्पादित कोशिकाओं का मनाया गया मिलीग्राम है।
अधिकतम उपज गुणांक - अधिकतम उपज गुणांक Y प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ निकाले जाने पर उत्पादित कोशिकाओं की अधिकतम मिलीग्राम का प्रतिनिधित्व करता है।
माध्य सेल निवास समय - (में मापा गया दूसरा) - मीन सेल रेजिडेंस टाइम वह औसत समय है जब कीचड़ रिएक्टर में रहता है।
चरण 1: इनपुट को आधार इकाई में बदलें
मनाया सेल यील्ड: 0.8 --> कोई रूपांतरण आवश्यक नहीं है
अधिकतम उपज गुणांक: 0.5 --> कोई रूपांतरण आवश्यक नहीं है
माध्य सेल निवास समय: 7 दिन --> 604800 दूसरा (रूपांतरण की जाँच करें ​यहाँ)
चरण 2: फॉर्मूला का मूल्यांकन करें
फॉर्मूला में इनपुट वैल्यू को तैयार करना
kd = (Yobs-Y)/θc --> (0.8-0.5)/604800
मूल्यांकन हो रहा है ... ...
kd = 4.96031746031746E-07
चरण 3: परिणाम को आउटपुट की इकाई में बदलें
4.96031746031746E-07 1 प्रति सेकंड -->0.0428571428571429 1 प्रति दिन (रूपांतरण की जाँच करें ​यहाँ)
आख़री जवाब
0.0428571428571429 0.042857 1 प्रति दिन <-- अंतर्जात क्षय गुणांक
(गणना 00.004 सेकंड में पूरी हुई)

क्रेडिट

Creator Image
के द्वारा बनाई गई इशिता गोयल
मेरठ इंस्टीट्यूट ऑफ इंजीनियरिंग एंड टेक्नोलॉजी (MIET), मेरठ
इशिता गोयल ने इस कैलकुलेटर और 500+ अधिक कैलकुलेटर को बनाए है!
Verifier Image
के द्वारा सत्यापित चंदना पी देव
एनएसएस कॉलेज ऑफ इंजीनियरिंग (एनएसएससीई), पलक्कड़
चंदना पी देव ने इस कैलकुलेटर और 1700+ को अधिक कैलकुलेटर से सत्यापित किया है!

2 अंतर्जात क्षय गुणांक कैलक्युलेटर्स

अंतर्जात क्षय स्थिरांक रिएक्टर का आयतन दिया गया
​ जाओ अंतर्जात क्षय गुणांक = ((औसत दैनिक प्रभाव प्रवाह दर*अधिकतम उपज गुणांक*(प्रभावशाली सब्सट्रेट एकाग्रता-प्रवाह सब्सट्रेट एकाग्रता))/(रिएक्टर वॉल्यूम*एमएलवीएसएस))-(1/माध्य सेल निवास समय)
अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड
​ जाओ अंतर्जात क्षय गुणांक = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड सूत्र

अंतर्जात क्षय गुणांक = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय
kd = (Yobs-Y)/θc

क्या मनाया सेल उपज है?

देखे गए सेल की उपज प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थों को हटाए गए कोशिकाओं के मनाया मिलीग्राम का प्रतिनिधित्व करती है। मनाया सेल उपज हमेशा अधिकतम सेल उपज से कम है, (वाई)।

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड की गणना कैसे करें?

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड के लिए ऑनलाइन कैलकुलेटर पर, कृपया मनाया सेल यील्ड (Yobs), ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड, हटाए गए प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ में उत्पादित कोशिकाओं का मनाया गया मिलीग्राम है। के रूप में, अधिकतम उपज गुणांक (Y), अधिकतम उपज गुणांक Y प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ निकाले जाने पर उत्पादित कोशिकाओं की अधिकतम मिलीग्राम का प्रतिनिधित्व करता है। के रूप में & माध्य सेल निवास समय (θc), मीन सेल रेजिडेंस टाइम वह औसत समय है जब कीचड़ रिएक्टर में रहता है। के रूप में डालें। कृपया अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड गणना को पूर्ण करने के लिए कैलकुलेट बटन का उपयोग करें।

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड गणना

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड कैलकुलेटर, अंतर्जात क्षय गुणांक की गणना करने के लिए Endogenous decay coefficient = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय का उपयोग करता है। अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड kd को अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड एक गुणांक है जो एमएलवीएसएस में सेल द्रव्यमान की कमी का प्रतिनिधित्व करता है। के रूप में परिभाषित किया गया है। यहाँ अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड गणना को संख्या में समझा जा सकता है - 2592 = (0.8-0.5)/604800. आप और अधिक अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड उदाहरण यहाँ देख सकते हैं -

FAQ

अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड क्या है?
अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड एक गुणांक है जो एमएलवीएसएस में सेल द्रव्यमान की कमी का प्रतिनिधित्व करता है। है और इसे kd = (Yobs-Y)/θc या Endogenous decay coefficient = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय के रूप में दर्शाया जाता है।
अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड की गणना कैसे करें?
अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड को अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड एक गुणांक है जो एमएलवीएसएस में सेल द्रव्यमान की कमी का प्रतिनिधित्व करता है। Endogenous decay coefficient = (मनाया सेल यील्ड-अधिकतम उपज गुणांक)/माध्य सेल निवास समय kd = (Yobs-Y)/θc के रूप में परिभाषित किया गया है। अंतर्जात क्षय गुणांक दिया गया सेल यील्ड की गणना करने के लिए, आपको मनाया सेल यील्ड (Yobs), अधिकतम उपज गुणांक (Y) & माध्य सेल निवास समय c) की आवश्यकता है। हमारे टूल के द्वारा, आपको ऑब्जर्व्ड सेल यील्ड, हटाए गए प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ में उत्पादित कोशिकाओं का मनाया गया मिलीग्राम है।, अधिकतम उपज गुणांक Y प्रति मिलीग्राम कार्बनिक पदार्थ निकाले जाने पर उत्पादित कोशिकाओं की अधिकतम मिलीग्राम का प्रतिनिधित्व करता है। & मीन सेल रेजिडेंस टाइम वह औसत समय है जब कीचड़ रिएक्टर में रहता है। के लिए संबंधित मान दर्ज करने और कैलकुलेट बटन को क्लिक करने की आवश्यकता है।
अंतर्जात क्षय गुणांक की गणना करने के कितने तरीके हैं?
अंतर्जात क्षय गुणांक मनाया सेल यील्ड (Yobs), अधिकतम उपज गुणांक (Y) & माध्य सेल निवास समय c) का उपयोग करता है। हम गणना करने के 1 अन्य तरीकों का उपयोग कर सकते हैं, जो इस प्रकार हैं -
  • अंतर्जात क्षय गुणांक = ((औसत दैनिक प्रभाव प्रवाह दर*अधिकतम उपज गुणांक*(प्रभावशाली सब्सट्रेट एकाग्रता-प्रवाह सब्सट्रेट एकाग्रता))/(रिएक्टर वॉल्यूम*एमएलवीएसएस))-(1/माध्य सेल निवास समय)
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