Ordre de diffraction Calculatrice

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Porteurs de semi-conducteurs

✖Greffage L'espace ou la distance entre les fentes est la mesure de la séparation entre deux plans pour que la diffraction ait lieu.ⓘ Espace de greffe [d]			+10% -10%
✖L'angle d'incidence est l'angle auquel le rayon du faisceau frappe le plan.ⓘ Angle d'incidence [θ_i]			+10% -10%
✖La longueur d'onde du rayon est la distance entre les points correspondants consécutifs de la même phase sur l'onde, tels que deux crêtes adjacentes, des creux.ⓘ Longueur d'onde du rayon [λ]			+10% -10%

✖L'ordre de diffraction fait référence au numéro attribué à un motif d'interférence spécifique ou à un maximum ou un minimum spécifique d'intensité observé dans le motif diffracté.ⓘ Ordre de diffraction [m]

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Formule

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Ordre de diffraction

Formule

`"m" = (2*"d"*sin("θ"_{"i"}))/"λ"`

Exemple

`"7.272727"=(2*"160μm"*sin("30°"))/"22μm"`

Calculatrice

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Ordre de diffraction Solution

ÉTAPE 0: Résumé du pré-calcul

Formule utilisée

Ordre de diffraction = (2*Espace de greffe*sin(Angle d'incidence))/Longueur d'onde du rayon
m = (2*d*sin(θ_i))/λ
Cette formule utilise 1 Les fonctions, 4 Variables

Fonctions utilisées

sin - Le sinus est une fonction trigonométrique qui décrit le rapport entre la longueur du côté opposé d'un triangle rectangle et la longueur de l'hypoténuse., sin(Angle)

Variables utilisées

Ordre de diffraction - L'ordre de diffraction fait référence au numéro attribué à un motif d'interférence spécifique ou à un maximum ou un minimum spécifique d'intensité observé dans le motif diffracté.
Espace de greffe - (Mesuré en Mètre) - Greffage L'espace ou la distance entre les fentes est la mesure de la séparation entre deux plans pour que la diffraction ait lieu.
Angle d'incidence - (Mesuré en Radian) - L'angle d'incidence est l'angle auquel le rayon du faisceau frappe le plan.
Longueur d'onde du rayon - (Mesuré en Mètre) - La longueur d'onde du rayon est la distance entre les points correspondants consécutifs de la même phase sur l'onde, tels que deux crêtes adjacentes, des creux.

ÉTAPE 1: Convertir les entrées en unité de base

Espace de greffe: 160 Micromètre --> 0.00016 Mètre (Vérifiez la conversion ici)
Angle d'incidence: 30 Degré --> 0.5235987755982 Radian (Vérifiez la conversion ici)
Longueur d'onde du rayon: 22 Micromètre --> 2.2E-05 Mètre (Vérifiez la conversion ici)

ÉTAPE 2: Évaluer la formule

Remplacement des valeurs d'entrée dans la formule

m = (2*d*sin(θ_i))/λ --> (2*0.00016*sin(0.5235987755982))/2.2E-05

Évaluer ... ...

m = 7.27272727272727

ÉTAPE 3: Convertir le résultat en unité de sortie

7.27272727272727 --> Aucune conversion requise

RÉPONSE FINALE

7.27272727272727 ≈ 7.272727 <-- Ordre de diffraction

(Calcul effectué en 00.020 secondes)

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Crédits

Créé par Yada Sai Pranay

Institut indien de conception et de fabrication des technologies de l'information ((IIIT D), Chennai

Yada Sai Pranay a créé cette calculatrice et 4 autres calculatrices!

Vérifié par Saiju Shah

Collège d'ingénierie Jayawantrao Sawant (JSCOE), Pune

Saiju Shah a validé cette calculatrice et 25+ autres calculatrices!

< 18 Électrons Calculatrices

Fonction d'onde dépendante de Phi

Aller Φ Fonction d'onde dépendante = (1/sqrt(2*pi))*(exp(Nombre quantique d'onde*Angle de fonction d'onde))

Ordre de diffraction

Aller Ordre de diffraction = (2*Espace de greffe*sin(Angle d'incidence))/Longueur d'onde du rayon

Composant de trou

Aller Composant de trou = Composant électronique*Efficacité d'injection de l'émetteur/(1-Efficacité d'injection de l'émetteur)

État quantique

Aller L'énergie à l'état quantique = (Nombre quantique^2*pi^2*[hP]^2)/(2*Masse de particules*Longueur potentielle du puits^2)

Rayon de la nième orbite de l'électron

Aller Rayon de la nième orbite de l'électron = ([Coulomb]*Nombre quantique^2*[hP]^2)/(Masse de particules*[Charge-e]^2)

Densité du flux électronique

Aller Densité de flux d'électrons = (Électron de libre parcours moyen/(2*Temps))*Différence de concentration d'électrons

Chemin libre moyen

Aller Électron de libre parcours moyen = (Densité de flux d'électrons/(Différence de concentration d'électrons))*2*Temps

Conductance CA

Aller Conductance CA = ([Charge-e]/([BoltZ]*Température))*Courant électrique

Composant électronique

Aller Composant électronique = ((Composant de trou)/Efficacité d'injection de l'émetteur)-Composant de trou

Différence de concentration d'électrons

Aller Différence de concentration d'électrons = Concentration d'électrons 1-Concentration d'électrons 2

Densité totale du courant porteur

Aller Densité totale de courant porteur = Densité de courant électronique+Densité de courant de trou

Densité de courant électronique

Aller Densité de courant électronique = Densité totale de courant porteur-Densité de courant de trou

Densité de courant de trou

Aller Densité de courant de trou = Densité totale de courant porteur-Densité de courant électronique

Temps moyen passé par trou

Aller Temps moyen passé par trou = Taux de génération optique*Décroissance des porteurs majoritaires

Multiplication d'électrons

Aller Multiplication d'électrons = Nombre d'électrons hors région/Nombre d'électrons dans la région

Électron dans la région

Aller Nombre d'électrons dans la région = Nombre d'électrons hors région/Multiplication d'électrons

Électron hors région

Aller Nombre d'électrons hors région = Multiplication d'électrons*Nombre d'électrons dans la région

Amplitude de la fonction d'onde

Aller Amplitude de la fonction d'onde = sqrt(2/Longueur potentielle du puits)

Ordre de diffraction Formule

Ordre de diffraction = (2*Espace de greffe*sin(Angle d'incidence))/Longueur d'onde du rayon
m = (2*d*sin(θ_i))/λ

Quelles sont les applications de l’Ordre de Diffraction ?

Les applications des ordres de diffraction incluent la spectroscopie pour analyser les matériaux, la création de réseaux de diffraction pour les dispositifs optiques et la détermination des structures moléculaires par diffraction des rayons X en cristallographie.

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