Ordine di diffrazione calcolatrice

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✖Lo spazio di innesto o la distanza tra le fenditure è la misura della separazione tra due piani affinché abbia luogo la diffrazione.ⓘ Spazio di innesto [d]			+10% -10%
✖L'angolo di incidenza è l'angolo al quale il raggio del raggio colpisce il piano.ⓘ Angolo incidente [θ_i]			+10% -10%
✖La lunghezza d'onda del raggio è la distanza tra punti consecutivi corrispondenti della stessa fase sull'onda, come due creste adiacenti, avvallamenti.ⓘ Lunghezza d'onda del raggio [λ]			+10% -10%

✖L'ordine di diffrazione si riferisce al numero assegnato a uno specifico schema di interferenza oa uno specifico massimo o minimo di intensità osservato nello schema diffratto.ⓘ Ordine di diffrazione [m]

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Formula

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Ordine di diffrazione

Formula

`"m" = (2*"d"*sin("θ"_{"i"}))/"λ"`

Esempio

`"7.272727"=(2*"160μm"*sin("30°"))/"22μm"`

Calcolatrice

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Ordine di diffrazione Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo

Formula utilizzata

Ordine di diffrazione = (2*Spazio di innesto*sin(Angolo incidente))/Lunghezza d'onda del raggio
m = (2*d*sin(θ_i))/λ
Questa formula utilizza 1 Funzioni, 4 Variabili

Funzioni utilizzate

sin - Il seno è una funzione trigonometrica che descrive il rapporto tra la lunghezza del lato opposto di un triangolo rettangolo e la lunghezza dell'ipotenusa., sin(Angle)

Variabili utilizzate

Ordine di diffrazione - L'ordine di diffrazione si riferisce al numero assegnato a uno specifico schema di interferenza oa uno specifico massimo o minimo di intensità osservato nello schema diffratto.
Spazio di innesto - (Misurato in metro) - Lo spazio di innesto o la distanza tra le fenditure è la misura della separazione tra due piani affinché abbia luogo la diffrazione.
Angolo incidente - (Misurato in Radiante) - L'angolo di incidenza è l'angolo al quale il raggio del raggio colpisce il piano.
Lunghezza d'onda del raggio - (Misurato in metro) - La lunghezza d'onda del raggio è la distanza tra punti consecutivi corrispondenti della stessa fase sull'onda, come due creste adiacenti, avvallamenti.

PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base

Spazio di innesto: 160 Micrometro --> 0.00016 metro (Controlla la conversione qui)
Angolo incidente: 30 Grado --> 0.5235987755982 Radiante (Controlla la conversione qui)
Lunghezza d'onda del raggio: 22 Micrometro --> 2.2E-05 metro (Controlla la conversione qui)

FASE 2: valutare la formula

Sostituzione dei valori di input nella formula

m = (2*d*sin(θ_i))/λ --> (2*0.00016*sin(0.5235987755982))/2.2E-05

Valutare ... ...

m = 7.27272727272727

PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output

7.27272727272727 --> Nessuna conversione richiesta

RISPOSTA FINALE

7.27272727272727 ≈ 7.272727 <-- Ordine di diffrazione

(Calcolo completato in 00.004 secondi)

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Titoli di coda

Creato da Yada Sai Pranay

Istituto indiano di progettazione e produzione di tecnologie dell'informazione ((IIIT D), Chennai

Yada Sai Pranay ha creato questa calcolatrice e altre 4 altre calcolatrici!

Verificato da Saiju Shah

Jayawantrao Sawant College of Engineering (JSCOE), Pune

Saiju Shah ha verificato questa calcolatrice e altre 25+ altre calcolatrici!

< 18 Elettroni Calcolatrici

Funzione d'onda Phi-dipendente

Partire Φ Funzione d'onda dipendente = (1/sqrt(2*pi))*(exp(Numero quantico dell'onda*Angolo della funzione d'onda))

Ordine di diffrazione

Partire Ordine di diffrazione = (2*Spazio di innesto*sin(Angolo incidente))/Lunghezza d'onda del raggio

Componente foro

Partire Componente foro = Componente elettronico*Efficienza di iniezione dell'emettitore/(1-Efficienza di iniezione dell'emettitore)

Densità del flusso di elettroni

Partire Densità del flusso di elettroni = (Elettrone a cammino libero medio/(2*Tempo))*Differenza nella concentrazione di elettroni

Mean Free Path

Partire Elettrone a cammino libero medio = (Densità del flusso di elettroni/(Differenza nella concentrazione di elettroni))*2*Tempo

Raggio dell'ennesima orbita dell'elettrone

Partire Raggio dell'ennesima orbita dell'elettrone = ([Coulomb]*Numero quantico^2*[hP]^2)/(Massa della particella*[Charge-e]^2)

Stato quantico

Partire Energia in stato quantico = (Numero quantico^2*pi^2*[hP]^2)/(2*Massa della particella*Lunghezza potenziale del pozzo^2)

Conduttanza CA

Partire Conduttanza CA = ([Charge-e]/([BoltZ]*Temperatura))*Corrente elettrica

Componente elettronico

Partire Componente elettronico = ((Componente foro)/Efficienza di iniezione dell'emettitore)-Componente foro

Differenza nella concentrazione di elettroni

Partire Differenza nella concentrazione di elettroni = concentrazione di elettroni 1-concentrazione di elettroni 2

Densità di corrente della portante totale

Partire Densità di corrente portante totale = Densità di corrente elettronica+Densità di corrente del foro

Densità della corrente elettronica

Partire Densità di corrente elettronica = Densità di corrente portante totale-Densità di corrente del foro

Densità di corrente del foro

Partire Densità di corrente del foro = Densità di corrente portante totale-Densità di corrente elettronica

Moltiplicazione di elettroni

Partire Moltiplicazione elettronica = Numero di elettroni fuori regione/Numero di elettroni nella regione

Tempo medio speso per buca

Partire Tempo medio speso per buca = Velocità di generazione ottica*Decadimento del vettore maggioritario

Elettrone fuori regione

Partire Numero di elettroni fuori regione = Moltiplicazione elettronica*Numero di elettroni nella regione

Elettrone in regione

Partire Numero di elettroni nella regione = Numero di elettroni fuori regione/Moltiplicazione elettronica

Ampiezza della funzione d'onda

Partire Ampiezza della funzione d'onda = sqrt(2/Lunghezza potenziale del pozzo)

Ordine di diffrazione Formula

Ordine di diffrazione = (2*Spazio di innesto*sin(Angolo incidente))/Lunghezza d'onda del raggio
m = (2*d*sin(θ_i))/λ

Quali sono le applicazioni dell'Ordine di Diffrazione?

Le applicazioni degli ordini di diffrazione includono la spettroscopia per analizzare materiali, la creazione di reticoli di diffrazione per dispositivi ottici e la determinazione di strutture molecolari attraverso la diffrazione di raggi X nella cristallografia.

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