प्लेटची उंची आणि स्तंभाची लांबी दिलेले मानक विचलन उपाय

चरण 0: पूर्व-गणन सारांश
फॉर्म्युला वापरले जाते
एच आणि एल दिलेले मानक विचलन = sqrt(प्लेट उंची*स्तंभाची लांबी)
σHandL = sqrt(H*L)
हे सूत्र 1 कार्ये, 3 व्हेरिएबल्स वापरते
कार्ये वापरली
sqrt - स्क्वेअर रूट फंक्शन हे एक फंक्शन आहे जे इनपुट म्हणून नॉन-ऋणात्मक संख्या घेते आणि दिलेल्या इनपुट नंबरचे वर्गमूळ परत करते., sqrt(Number)
व्हेरिएबल्स वापरलेले
एच आणि एल दिलेले मानक विचलन - H आणि L दिलेले मानक विचलन हे संख्या किती पसरलेले आहेत याचे मोजमाप आहे.
प्लेट उंची - (मध्ये मोजली मीटर) - प्लेटची उंची अनेक अरुंद, विवेकी, संसर्गजन्य क्षैतिज स्तरांची उंची म्हणून परिभाषित केली जाते.
स्तंभाची लांबी - (मध्ये मोजली मीटर) - स्तंभाची लांबी ही क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची उंची आहे ज्यामध्ये कणांचे पृथक्करण होते.
चरण 1: इनपुट ला बेस युनिटमध्ये रूपांतरित करा
प्लेट उंची: 12 मीटर --> 12 मीटर कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
स्तंभाची लांबी: 9.9 मीटर --> 9.9 मीटर कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
चरण 2: फॉर्म्युलाचे मूल्यांकन करा
फॉर्म्युलामध्ये इनपुट व्हॅल्यूजची स्थापना करणे
σHandL = sqrt(H*L) --> sqrt(12*9.9)
मूल्यांकन करत आहे ... ...
σHandL = 10.899541274751
चरण 3: निकाल आउटपुटच्या युनिटमध्ये रूपांतरित करा
10.899541274751 --> कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
अंतिम उत्तर
10.899541274751 10.89954 <-- एच आणि एल दिलेले मानक विचलन
(गणना 00.004 सेकंदात पूर्ण झाली)

जमा

Creator Image
ने निर्मित प्रशांत सिंह
के.जे. सोमैया विज्ञान महाविद्यालय (के जे सोमैया), मुंबई
प्रशांत सिंह यांनी हे कॅल्क्युलेटर आणि 700+ अधिक कॅल्क्युलेटर तयार केले आहेत!
Verifier Image
द्वारे सत्यापित प्रेराणा बकली
मानोआ येथील हवाई विद्यापीठ (उह मानोआ), हवाई, यूएसए
प्रेराणा बकली यानी हे कॅल्क्युलेटर आणि 1600+ अधिक कॅल्क्युलेटर सत्यापित केले आहेत।

8 स्तंभाची लांबी कॅल्क्युलेटर

स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि शिखराची रुंदी
​ जा NP आणि WP दिलेली क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = (शिखर N आणि L ची रुंदी/4)*(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि मानक विचलन
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = प्रमाणित विचलन*(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
दिलेली शिखराची रुंदी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि स्तंभाची लांबी
​ जा शिखर N आणि L ची रुंदी = (4*स्तंभाची लांबी)/(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
स्तंभाची लांबी आणि सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या दिलेले मानक विचलन
​ जा L आणि N दिलेले मानक विचलन = स्तंभाची लांबी/(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
प्लेटची उंची आणि स्तंभाची लांबी दिलेले मानक विचलन
​ जा एच आणि एल दिलेले मानक विचलन = sqrt(प्लेट उंची*स्तंभाची लांबी)
स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या दिली आहे
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = (सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या*प्लेट उंची)
स्तंभाची लांबी दिलेली मानक विचलन आणि प्लेटची उंची
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = ((प्रमाणित विचलन)^2)/प्लेट उंची
प्लेटची उंची मानक विचलन आणि स्तंभाची लांबी दिलेली आहे
​ जा प्लेटची उंची SD दिली आहे = ((प्रमाणित विचलन)^2)/स्तंभाची लांबी

15 वितरण गुणोत्तर आणि स्तंभाची लांबी कॅल्क्युलेटर

स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि शिखराची रुंदी
​ जा NP आणि WP दिलेली क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = (शिखर N आणि L ची रुंदी/4)*(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि मानक विचलन
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = प्रमाणित विचलन*(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
दिलेली शिखराची रुंदी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या आणि स्तंभाची लांबी
​ जा शिखर N आणि L ची रुंदी = (4*स्तंभाची लांबी)/(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
स्तंभाची लांबी आणि सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या दिलेले मानक विचलन
​ जा L आणि N दिलेले मानक विचलन = स्तंभाची लांबी/(sqrt(सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या))
प्लेटची उंची आणि स्तंभाची लांबी दिलेले मानक विचलन
​ जा एच आणि एल दिलेले मानक विचलन = sqrt(प्लेट उंची*स्तंभाची लांबी)
A आणि B या दोन विद्राव्यांचे पृथक्करण घटक
​ जा पृथक्करण घटक A आणि B = (सोल्युट ए चे वितरण गुणोत्तर/सोल्युट बी चे वितरण गुणोत्तर)
रिझोल्यूशन आणि शिखराची सरासरी रुंदी लक्षात घेऊन रिटेन्शन व्हॉल्यूममधील बदल
​ जा रँड डब्ल्यू दिल्याने धारणा व्हॉल्यूममधील बदल = (ठराव*शिखरांची सरासरी रुंदी)
वितरण प्रमाण
​ जा वास्तविक वितरण प्रमाण = (सेंद्रिय टप्प्यात एकाग्रता/जलीय टप्प्यात एकाग्रता)
स्तंभाची लांबी सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या दिली आहे
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = (सैद्धांतिक प्लेट्सची संख्या*प्लेट उंची)
शिखरांच्या सरासरी रुंदीच्या निम्म्याने धरून ठेवण्याच्या वेळेत बदल
​ जा प्रतिधारण वेळेत बदल H = (ठराव*शिखरांच्या सरासरी रुंदीच्या अर्धा)/0.589
स्तंभाची लांबी दिलेली मानक विचलन आणि प्लेटची उंची
​ जा क्रोमॅटोग्राफिक स्तंभाची लांबी = ((प्रमाणित विचलन)^2)/प्लेट उंची
प्लेटची उंची मानक विचलन आणि स्तंभाची लांबी दिलेली आहे
​ जा प्लेटची उंची SD दिली आहे = ((प्रमाणित विचलन)^2)/स्तंभाची लांबी
रिझोल्यूशन आणि शिखराची सरासरी रुंदी लक्षात घेऊन ठेवण्याच्या वेळेत बदल
​ जा R आणि W दिलेले धारणा वेळेत बदल = (ठराव*शिखरांची सरासरी रुंदी)
सोल्युट A चे वितरण गुणोत्तर दिलेले विभक्तता घटक
​ जा वितरण प्रमाण A = (पृथक्करण घटक*सोल्युट बी चे वितरण गुणोत्तर)
सोल्युट बी चे वितरण गुणोत्तर दिलेला विभक्तता घटक
​ जा वितरण प्रमाण B = (सोल्युट ए चे वितरण गुणोत्तर/पृथक्करण घटक)

प्लेटची उंची आणि स्तंभाची लांबी दिलेले मानक विचलन सुत्र

एच आणि एल दिलेले मानक विचलन = sqrt(प्लेट उंची*स्तंभाची लांबी)
σHandL = sqrt(H*L)

क्रोमॅटोग्राफी म्हणजे काय?

दोन चरणांमधील भिन्न विद्रावांच्या विभाजन गुणांकांवर आधारित भिन्न प्रक्रिया. विरघळणारे (चे) आणि दोन टप्प्यांचे संवाद सामील करणे मोबाइल टप्पा: स्तंभातून फिरणारी गॅस किंवा द्रव. स्थिर टप्पा: एक घन किंवा द्रव जो त्या ठिकाणी राहील.

क्रोमॅटोग्राफीचे प्रकार काय आहेत?

१) सोशोशन क्रोमॅटोग्राफी २) आयन-एक्सचेंज क्रोमॅटोग्राफी)) पार्टिशन क्रोमोग्राफी

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!