PN-verbindingscapaciteit Oplossing

STAP 0: Samenvatting voorberekening
Formule gebruikt
Verbindingscapaciteit = PN-verbindingsgebied/2*sqrt((2*[Charge-e]*Relatieve permittiviteit*[Permitivity-silicon])/(Spanning over PN-verbinding-(Omgekeerde voorspanning))*((Acceptorconcentratie*Donorconcentratie)/(Acceptorconcentratie+Donorconcentratie)))
Cj = Apn/2*sqrt((2*[Charge-e]*εr*[Permitivity-silicon])/(V0-(V))*((NA*ND)/(NA+ND)))
Deze formule gebruikt 2 Constanten, 1 Functies, 7 Variabelen
Gebruikte constanten
[Permitivity-silicon] - Permittiviteit van silicium Waarde genomen als 11.7
[Charge-e] - Lading van elektron Waarde genomen als 1.60217662E-19
Functies die worden gebruikt
sqrt - Een vierkantswortelfunctie is een functie die een niet-negatief getal als invoer neemt en de vierkantswortel van het gegeven invoergetal retourneert., sqrt(Number)
Variabelen gebruikt
Verbindingscapaciteit - (Gemeten in Farad) - Verbindingscapaciteit verwijst naar de capaciteit die geassocieerd is met de pn-overgang gevormd tussen twee halfgeleidergebieden in een halfgeleiderapparaat, zoals een diode of een transistor.
PN-verbindingsgebied - (Gemeten in Plein Meter) - Het PN-verbindingsgebied is het grens- of interfacegebied tussen twee soorten halfgeleidermaterialen in een pn-diode.
Relatieve permittiviteit - (Gemeten in Farad per meter) - De relatieve permittiviteit is een maatstaf voor het vermogen van een materiaal om elektrische energie in een elektrisch veld op te slaan.
Spanning over PN-verbinding - (Gemeten in Volt) - Spanning over PN-verbinding is de ingebouwde potentiaal over de pn-overgang van een halfgeleider zonder enige externe voorspanning.
Omgekeerde voorspanning - (Gemeten in Volt) - Omgekeerde voorspanning is de negatieve externe spanning die op de pn-overgang wordt aangelegd.
Acceptorconcentratie - (Gemeten in 1 per kubieke meter) - Acceptorconcentratie verwijst naar de concentratie van acceptor-doteringsatomen in een halfgeleidermateriaal.
Donorconcentratie - (Gemeten in 1 per kubieke meter) - Donorconcentratie verwijst naar de concentratie van donordoteringsatomen die in een halfgeleidermateriaal worden geïntroduceerd om het aantal vrije elektronen te vergroten.
STAP 1: converteer ingang (en) naar basiseenheid
PN-verbindingsgebied: 4.8 Plein Micrometer --> 4.8E-12 Plein Meter (Bekijk de conversie ​hier)
Relatieve permittiviteit: 78 Farad per meter --> 78 Farad per meter Geen conversie vereist
Spanning over PN-verbinding: 0.6 Volt --> 0.6 Volt Geen conversie vereist
Omgekeerde voorspanning: -4 Volt --> -4 Volt Geen conversie vereist
Acceptorconcentratie: 1E+22 1 per kubieke meter --> 1E+22 1 per kubieke meter Geen conversie vereist
Donorconcentratie: 1E+24 1 per kubieke meter --> 1E+24 1 per kubieke meter Geen conversie vereist
STAP 2: Evalueer de formule
Invoerwaarden in formule vervangen
Cj = Apn/2*sqrt((2*[Charge-e]*εr*[Permitivity-silicon])/(V0-(V))*((NA*ND)/(NA+ND))) --> 4.8E-12/2*sqrt((2*[Charge-e]*78*[Permitivity-silicon])/(0.6-((-4)))*((1E+22*1E+24)/(1E+22+1E+24)))
Evalueren ... ...
Cj = 1.9040662888657E-09
STAP 3: converteer het resultaat naar de eenheid van de uitvoer
1.9040662888657E-09 Farad -->1904066.2888657 Femtofarad (Bekijk de conversie ​hier)
DEFINITIEVE ANTWOORD
1904066.2888657 1.9E+6 Femtofarad <-- Verbindingscapaciteit
(Berekening voltooid in 00.004 seconden)

Credits

Creator Image
Gemaakt door Priyanka G Chalikar
Het Nationaal Instituut voor Techniek (NIE), Mysuru
Priyanka G Chalikar heeft deze rekenmachine gemaakt en nog 10+ meer rekenmachines!
Verifier Image
Geverifieërd door Santhosh Yadav
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore
Santhosh Yadav heeft deze rekenmachine geverifieerd en nog 50+ rekenmachines!

14 Apparaten met optische componenten Rekenmachines

PN-verbindingscapaciteit
​ Gaan Verbindingscapaciteit = PN-verbindingsgebied/2*sqrt((2*[Charge-e]*Relatieve permittiviteit*[Permitivity-silicon])/(Spanning over PN-verbinding-(Omgekeerde voorspanning))*((Acceptorconcentratie*Donorconcentratie)/(Acceptorconcentratie+Donorconcentratie)))
Elektronenconcentratie onder onevenwichtige omstandigheden
​ Gaan Elektronenconcentratie = Intrinsieke elektronenconcentratie*exp((Quasi Fermi-niveau van elektronen-Intrinsiek energieniveau van halfgeleiders)/([BoltZ]*Absolute temperatuur))
Diffusielengte van overgangsgebied
​ Gaan Verspreidingslengte van het overgangsgebied = Optische stroom/(Aanval*PN-verbindingsgebied*Optische generatiesnelheid)-(Overgangsbreedte+Lengte van P-zijverbinding)
Stroom door optisch gegenereerde draaggolf
​ Gaan Optische stroom = Aanval*PN-verbindingsgebied*Optische generatiesnelheid*(Overgangsbreedte+Verspreidingslengte van het overgangsgebied+Lengte van P-zijverbinding)
Piekvertraging
​ Gaan Piekvertraging = (2*pi)/Golflengte van licht*Lengte van vezels*Brekingsindex^3*Modulatie spanning
Maximale acceptatiehoek van samengestelde lens
​ Gaan Acceptatiehoek = asin(Brekingsindex van medium 1*Straal van lens*sqrt(Positieve constante))
Effectieve toestandsdichtheid in geleidingsband
​ Gaan Effectieve dichtheid van staten = 2*(2*pi*Effectieve massa van elektronen*[BoltZ]*Absolute temperatuur/[hP]^2)^(3/2)
Diffusiecoëfficiënt van elektron
​ Gaan Elektronendiffusiecoëfficiënt = Mobiliteit van elektronen*[BoltZ]*Absolute temperatuur/[Charge-e]
Diffractie met behulp van de Fresnel-Kirchoff-formule
​ Gaan Diffractiehoek = asin(1.22*Golflengte van zichtbaar licht/Diameter van diafragma)
Excitatie-energie
​ Gaan Excitatie-energie = 1.6*10^-19*13.6*(Effectieve massa van elektronen/[Mass-e])*(1/[Permitivity-silicon]^2)
Randafstand gegeven tophoek
​ Gaan Randruimte = Golflengte van zichtbaar licht/(2*tan(Hoek van interferentie))
Brewsters hoek
​ Gaan Brewsters Hoek = arctan(Brekingsindex van medium 1/Brekingsindex)
Rotatiehoek van het polarisatievlak
​ Gaan Hoek van rotatie = 1.8*Magnetische fluxdichtheid*Lengte van gemiddeld
Apex-hoek
​ Gaan Tophoek = tan(Alfa)

PN-verbindingscapaciteit Formule

Verbindingscapaciteit = PN-verbindingsgebied/2*sqrt((2*[Charge-e]*Relatieve permittiviteit*[Permitivity-silicon])/(Spanning over PN-verbinding-(Omgekeerde voorspanning))*((Acceptorconcentratie*Donorconcentratie)/(Acceptorconcentratie+Donorconcentratie)))
Cj = Apn/2*sqrt((2*[Charge-e]*εr*[Permitivity-silicon])/(V0-(V))*((NA*ND)/(NA+ND)))
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!