Ułamek masowy regionów krystalicznych Rozwiązanie

KROK 0: Podsumowanie wstępnych obliczeń
Formułę używana
Udział masowy składników krystalicznych = Obszar Pod Szczytem Krystalicznym/(Obszar Pod Szczytem Krystalicznym+Obszar pod amorficznym garbem)
μc = Ac/(Ac+Aa)
Ta formuła używa 3 Zmienne
Używane zmienne
Udział masowy składników krystalicznych - Ułamek masowy składników krystalicznych to ułamek całkowitej masy tego składnika krystalicznego z całkowitej masy próbki obecnej w polimerze.
Obszar Pod Szczytem Krystalicznym - (Mierzone w Wat na metr kwadratowy Steradian) - Obszar pod pikiem krystalicznym to obszar pod ostrym pikiem utworzonym przez rozproszenie z obszaru krystalicznego na krzywej WAXS.
Obszar pod amorficznym garbem - (Mierzone w Wat na metr kwadratowy Steradian) - Obszar pod garbem amorficznym to obszar pod szerokim (garbem) pikiem powstałym w wyniku rozpraszania z obszaru amorficznego (niekrystalicznego) na krzywej WAXS.
KROK 1: Zamień wejście (a) na jednostkę bazową
Obszar Pod Szczytem Krystalicznym: 7 Wat na metr kwadratowy Steradian --> 7 Wat na metr kwadratowy Steradian Nie jest wymagana konwersja
Obszar pod amorficznym garbem: 9 Wat na metr kwadratowy Steradian --> 9 Wat na metr kwadratowy Steradian Nie jest wymagana konwersja
KROK 2: Oceń formułę
Zastępowanie wartości wejściowych we wzorze
μc = Ac/(Ac+Aa) --> 7/(7+9)
Ocenianie ... ...
μc = 0.4375
KROK 3: Konwertuj wynik na jednostkę wyjścia
0.4375 --> Nie jest wymagana konwersja
OSTATNIA ODPOWIEDŹ
0.4375 <-- Udział masowy składników krystalicznych
(Obliczenie zakończone za 00.004 sekund)

Kredyty

Stworzone przez Pratibha
Instytut Nauk Stosowanych Amity (AIAS, Uniwersytet Amity), Noida, Indie
Pratibha utworzył ten kalkulator i 100+ więcej kalkulatorów!
Zweryfikowane przez Prerana Bakli
Uniwersytet Hawajski w Mānoa (UH Manoa), Hawaje, USA
Prerana Bakli zweryfikował ten kalkulator i 1600+ więcej kalkulatorów!

9 Krystaliczność w polimerach Kalkulatory

Ułamek masowy składników krystalicznych przy określonej objętości
Iść Udział masowy składników krystalicznych = (Specyficzna objętość składnika amorficznego-Specyficzna objętość próbki)/(Specyficzna objętość składnika amorficznego-Specyficzna objętość składnika krystalicznego)
Udział masowy składników krystalicznych przy danej gęstości
Iść Udział masowy składników krystalicznych = (Gęstość składnika krystalicznego*Całkowita objętość składników krystalicznych)/(Gęstość próbki*Całkowita objętość próbki)
Udział objętościowy składników krystalicznych przy danej gęstości
Iść Udział objętościowy składników krystalicznych = ((Gęstość próbki-Gęstość składnika amorficznego)/(Gęstość składnika krystalicznego-Gęstość składnika amorficznego))
Ułamek masowy regionów krystalicznych
Iść Udział masowy składników krystalicznych = Obszar Pod Szczytem Krystalicznym/(Obszar Pod Szczytem Krystalicznym+Obszar pod amorficznym garbem)
Całkowita objętość składników krystalicznych podana jako ułamek objętości
Iść Całkowita objętość składników krystalicznych = Udział objętościowy składników krystalicznych*Całkowita objętość próbki
Udział objętościowy składników krystalicznych
Iść Udział objętościowy składników krystalicznych = Całkowita objętość składników krystalicznych/Całkowita objętość próbki
Całkowita objętość próbki
Iść Całkowita objętość próbki = Całkowita objętość składników krystalicznych+Całkowita objętość składników amorficznych
Udział masowy składników krystalicznych
Iść Udział masowy składników krystalicznych = Całkowita masa składników krystalicznych/Całkowita masa próbki
Całkowita masa próbki
Iść Całkowita masa próbki = Całkowita masa składników krystalicznych+Całkowita masa składników amorficznych

Ułamek masowy regionów krystalicznych Formułę

Udział masowy składników krystalicznych = Obszar Pod Szczytem Krystalicznym/(Obszar Pod Szczytem Krystalicznym+Obszar pod amorficznym garbem)
μc = Ac/(Ac+Aa)

Czym jest metoda WAXS?

W krystalografii rentgenowskiej szerokokątne rozpraszanie promieni rentgenowskich (WAXS) lub szerokokątna dyfrakcja rentgenowska (WAXD) to analiza pików Bragga rozproszonych pod szerokimi kątami, które (zgodnie z prawem Bragga) są spowodowane sub-nanometrem -wielkości konstrukcji. Jest to metoda dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego i jest powszechnie stosowana do określania zakresu informacji o materiałach krystalicznych. Termin WAXS jest powszechnie używany w naukach o polimerach w celu odróżnienia go od SAXS, ale wielu naukowców wykonujących „WAXS” opisałoby pomiary jako dyfrakcję Bragga / promieniowania rentgenowskiego / proszkowego lub krystalografię.

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!