Массовая доля кристаллических областей Решение

ШАГ 0: Сводка предварительного расчета
Используемая формула
Массовая доля кристаллических компонентов = Площадь под кристаллическим пиком/(Площадь под кристаллическим пиком+Площадь под аморфным горбом)
μc = Ac/(Ac+Aa)
В этой формуле используются 3 Переменные
Используемые переменные
Массовая доля кристаллических компонентов - Массовая доля кристаллических компонентов представляет собой долю общей массы этого кристаллического компонента от общей массы образца, присутствующего в полимере.
Площадь под кристаллическим пиком - (Измеряется в Ватт на квадратный метр, стерадиан) - Площадь под кристаллическим пиком — это площадь под острым пиком, полученным за счет рассеяния от кристаллической области на кривой WAXS.
Площадь под аморфным горбом - (Измеряется в Ватт на квадратный метр, стерадиан) - Площадь под аморфным горбом — это площадь под широким (горбовым) пиком, полученным в результате рассеяния от аморфной (некристаллической) области на кривой WAXS.
ШАГ 1. Преобразование входов в базовый блок
Площадь под кристаллическим пиком: 7 Ватт на квадратный метр, стерадиан --> 7 Ватт на квадратный метр, стерадиан Конверсия не требуется
Площадь под аморфным горбом: 9 Ватт на квадратный метр, стерадиан --> 9 Ватт на квадратный метр, стерадиан Конверсия не требуется
ШАГ 2: Оцените формулу
Подстановка входных значений в формулу
μc = Ac/(Ac+Aa) --> 7/(7+9)
Оценка ... ...
μc = 0.4375
ШАГ 3: Преобразуйте результат в единицу вывода
0.4375 --> Конверсия не требуется
ОКОНЧАТЕЛЬНЫЙ ОТВЕТ
0.4375 <-- Массовая доля кристаллических компонентов
(Расчет завершен через 00.020 секунд)

Кредиты

Сделано Пратибха
Институт прикладных наук Амити (AIAS, Университет Амити), Нойда, Индия
Пратибха создал этот калькулятор и еще 100+!
Проверено Прерана Бакли
Гавайский университет в Маноа (УХ Маноа), Гавайи, США
Прерана Бакли проверил этот калькулятор и еще 1600+!

9 Кристалличность в полимерах Калькуляторы

Массовая доля кристаллических компонентов с учетом удельного объема
Идти Массовая доля кристаллических компонентов = (Удельный объем аморфного компонента-Удельный объем образца)/(Удельный объем аморфного компонента-Удельный объем кристаллического компонента)
Объемная доля кристаллических компонентов с учетом плотности
Идти Объемная доля кристаллических компонентов = ((Плотность образца-Плотность аморфного компонента)/(Плотность кристаллического компонента-Плотность аморфного компонента))
Массовая доля кристаллических компонентов с учетом плотности
Идти Массовая доля кристаллических компонентов = (Плотность кристаллического компонента*Общий объем кристаллических компонентов)/(Плотность образца*Общий объем образца)
Массовая доля кристаллических областей
Идти Массовая доля кристаллических компонентов = Площадь под кристаллическим пиком/(Площадь под кристаллическим пиком+Площадь под аморфным горбом)
Массовая доля кристаллических компонентов
Идти Массовая доля кристаллических компонентов = Суммарная масса кристаллических компонентов/Общая масса образца
Общий объем кристаллических компонентов с учетом объемной доли
Идти Общий объем кристаллических компонентов = Объемная доля кристаллических компонентов*Общий объем образца
Объемная доля кристаллических компонентов
Идти Объемная доля кристаллических компонентов = Общий объем кристаллических компонентов/Общий объем образца
Общая масса образца
Идти Общая масса образца = Суммарная масса кристаллических компонентов+Общая масса аморфных компонентов
Общий объем образца
Идти Общий объем образца = Общий объем кристаллических компонентов+Общий объем аморфных компонентов

Массовая доля кристаллических областей формула

Массовая доля кристаллических компонентов = Площадь под кристаллическим пиком/(Площадь под кристаллическим пиком+Площадь под аморфным горбом)
μc = Ac/(Ac+Aa)

Что такое метод WAXS?

В рентгеновской кристаллографии широкоугольное рассеяние рентгеновских лучей (WAXS) или широкоугольная дифракция рентгеновских лучей (WAXD) - это анализ пиков Брэгга, рассеянных на большие углы, которые (по закону Брэгга) вызваны субнанометровыми габаритные конструкции. Это метод дифракции рентгеновских лучей, который обычно используется для получения информации о кристаллических материалах. Термин WAXS обычно используется в науках о полимерах, чтобы отличить его от SAXS, но многие ученые, занимающиеся «WAXS», описывают измерения как брэгговские / рентгеновские / порошковые дифракции или кристаллографию.

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!