Frazione di posto vacante in termini di energia Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo
Formula utilizzata
Frazione di posto vacante = exp(-Energia richiesta per posto vacante/([R]*Temperatura))
fvacancy = exp(-ΔEvacancy/([R]*T))
Questa formula utilizza 1 Costanti, 1 Funzioni, 3 Variabili
Costanti utilizzate
[R] - Costante universale dei gas Valore preso come 8.31446261815324
Funzioni utilizzate
exp - In una funzione esponenziale, il valore della funzione cambia di un fattore costante per ogni variazione unitaria della variabile indipendente., exp(Number)
Variabili utilizzate
Frazione di posto vacante - La frazione di posto vacante è il rapporto tra il reticolo cristallino vacante e il totale n. di reticolo cristallino.
Energia richiesta per posto vacante - (Misurato in Joule) - L'energia richiesta per posto vacante è E è l'energia richiesta per creare un posto vacante nel reticolo cristallino.
Temperatura - (Misurato in Kelvin) - La temperatura è il grado o l'intensità del calore presente in una sostanza o in un oggetto.
PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base
Energia richiesta per posto vacante: 550 Joule --> 550 Joule Nessuna conversione richiesta
Temperatura: 85 Kelvin --> 85 Kelvin Nessuna conversione richiesta
FASE 2: valutare la formula
Sostituzione dei valori di input nella formula
fvacancy = exp(-ΔEvacancy/([R]*T)) --> exp(-550/([R]*85))
Valutare ... ...
fvacancy = 0.459216783334827
PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output
0.459216783334827 --> Nessuna conversione richiesta
RISPOSTA FINALE
0.459216783334827 0.459217 <-- Frazione di posto vacante
(Calcolo completato in 00.020 secondi)

Titoli di coda

Creator Image
Creato da Prerana Bakli
Università delle Hawai'i a Mānoa (UH Manoa), Hawaii, Stati Uniti
Prerana Bakli ha creato questa calcolatrice e altre 800+ altre calcolatrici!
Verifier Image
Verificato da Prashant Singh
KJ Somaiya College of science (KJ Somaiya), Mumbai
Prashant Singh ha verificato questa calcolatrice e altre 500+ altre calcolatrici!

24 Reticolo Calcolatrici

Lunghezza del bordo utilizzando la distanza interplanare del cristallo cubico
​ Partire Lunghezza del bordo = Spaziatura interplanare*sqrt((Indice di Miller lungo l'asse x^2)+(Indice di Miller lungo l'asse y^2)+(Indice di Miller lungo l'asse z^2))
Indice di Miller lungo l'asse X utilizzando gli indici di Weiss
​ Partire Indice di Miller lungo l'asse x = lcm(Indice di Weiss lungo l'asse x,Indice Weiss lungo l'asse y,Indice Weiss lungo l'asse z)/Indice di Weiss lungo l'asse x
Indice di Miller lungo l'asse Y utilizzando gli indici di Weiss
​ Partire Indice di Miller lungo l'asse y = lcm(Indice di Weiss lungo l'asse x,Indice Weiss lungo l'asse y,Indice Weiss lungo l'asse z)/Indice Weiss lungo l'asse y
Indice di Miller lungo l'asse Z utilizzando gli indici di Weiss
​ Partire Indice di Miller lungo l'asse z = lcm(Indice di Weiss lungo l'asse x,Indice Weiss lungo l'asse y,Indice Weiss lungo l'asse z)/Indice Weiss lungo l'asse z
Frazione di posto vacante in termini di energia
​ Partire Frazione di posto vacante = exp(-Energia richiesta per posto vacante/([R]*Temperatura))
Energia per posto vacante
​ Partire Energia richiesta per posto vacante = -ln(Frazione di posto vacante)*[R]*Temperatura
Frazione di impurità in termini di energia reticolare
​ Partire Frazione di impurità = exp(-Energia richiesta per impurità/([R]*Temperatura))
Energia per impurità
​ Partire Energia richiesta per impurità = -ln(Frazione di impurità)*[R]*Temperatura
Efficienza dell'imballaggio
​ Partire Efficienza di imballaggio = (Volume occupato da sfere nella cella unitaria/Volume totale di cella unitaria)*100
Numero di reticoli contenenti impurità
​ Partire N. di reticolo occupato da impurità = Frazione di impurità*N. Totale di punti reticolari
Frazione di impurità nel reticolo
​ Partire Frazione di impurità = N. di reticolo occupato da impurità/N. Totale di punti reticolari
Indice di Weiss lungo l'asse X utilizzando gli indici di Miller
​ Partire Indice di Weiss lungo l'asse x = LCM di Weiss Indices/Indice di Miller lungo l'asse x
Frazione di posti vacanti in reticolo
​ Partire Frazione di posto vacante = Numero di reticolo libero/N. Totale di punti reticolari
Numero di reticoli liberi
​ Partire Numero di reticolo libero = Frazione di posto vacante*N. Totale di punti reticolari
Indice di Weiss lungo l'asse Y utilizzando gli indici di Miller
​ Partire Indice Weiss lungo l'asse y = LCM di Weiss Indices/Indice di Miller lungo l'asse y
Indice di Weiss lungo l'asse Z utilizzando gli indici di Miller
​ Partire Indice Weiss lungo l'asse z = LCM di Weiss Indices/Indice di Miller lungo l'asse z
Raggio della particella costituente nel reticolo BCC
​ Partire Raggio della particella costituente = 3*sqrt(3)*Lunghezza del bordo/4
Lunghezza del bordo della cella dell'unità centrata sulla faccia
​ Partire Lunghezza del bordo = 2*sqrt(2)*Raggio della particella costituente
Lunghezza del bordo della cella dell'unità centrata sul corpo
​ Partire Lunghezza del bordo = 4*Raggio della particella costituente/sqrt(3)
Rapporto raggio
​ Partire Rapporto di raggio = Raggio di catione/Raggio di anione
Numero di vuoti tetraedrici
​ Partire Numero di vuoti tetraedrici = 2*Numero di sfere imballate chiuse
Raggio della particella costituente nel reticolo FCC
​ Partire Raggio della particella costituente = Lunghezza del bordo/2.83
Raggio della particella costituente nella cella unitaria cubica semplice
​ Partire Raggio della particella costituente = Lunghezza del bordo/2
Lunghezza del bordo della cella unitaria cubica semplice
​ Partire Lunghezza del bordo = 2*Raggio della particella costituente

Frazione di posto vacante in termini di energia Formula

Frazione di posto vacante = exp(-Energia richiesta per posto vacante/([R]*Temperatura))
fvacancy = exp(-ΔEvacancy/([R]*T))

Quali sono i difetti del cristallo?

La disposizione degli atomi in tutti i materiali contiene imperfezioni che hanno un effetto profondo sul comportamento dei materiali. I difetti del reticolo possono essere suddivisi in tre 1. Difetti puntuali (posti liberi, difetti interstiziali, difetti di sostituzione) 2. Difetto di linea (dislocazione della vite, dislocazione del bordo) 3. Difetti superficiali (superficie del materiale, bordi del grano)

Perché i difetti sono importanti?

Esistono molte proprietà controllate o influenzate dai difetti, ad esempio: 1. Conducibilità elettrica e termica nei metalli (fortemente ridotta da difetti puntiformi). 2. Conduttività elettronica nei semiconduttori (controllata da difetti di sostituzione). 3. Diffusione (controllata da posti vacanti). 4. Conduttività ionica (controllata da posti vacanti). 5. Deformazione plastica nei materiali cristallini (controllata dalla dislocazione). 6. Colori (affetti da difetti). 7. Resistenza meccanica (fortemente dipendente dai difetti).

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