कणाची इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता उपाय

चरण 0: पूर्व-गणन सारांश
फॉर्म्युला वापरले जाते
इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता = विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग/इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता
μe = νd/E
हे सूत्र 3 व्हेरिएबल्स वापरते
व्हेरिएबल्स वापरलेले
इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता - (मध्ये मोजली स्क्वेअर मीटर प्रति व्होल्ट प्रति सेकंद) - इलेक्ट्रोफोरेटिक मोबिलिटी म्हणजे ज्या ठिकाणी वेग मोजला जातो त्या ठिकाणी इलेक्ट्रोफोरेटिक (ड्रिफ्ट) वेग आणि विद्युत क्षेत्राच्या सामर्थ्याचे गुणोत्तर म्हणून परिभाषित केले जाते.
विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग - (मध्ये मोजली मीटर प्रति सेकंद) - विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग विद्युत क्षेत्रामुळे एखाद्या पदार्थात इलेक्ट्रॉनसारख्या चार्ज केलेल्या कणांद्वारे प्राप्त केलेला सरासरी वेग म्हणून परिभाषित केला जातो.
इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता - (मध्ये मोजली व्होल्ट प्रति मीटर) - इलेक्ट्रिक फील्ड इंटेन्सिटी ही एक वेक्टर मात्रा आहे ज्याची परिमाण आणि दिशा दोन्ही आहेत. हे चाचणी चार्ज कणावर उपस्थित असलेल्या चार्जच्या प्रमाणावर अवलंबून असते.
चरण 1: इनपुट ला बेस युनिटमध्ये रूपांतरित करा
विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग: 5 मीटर प्रति सेकंद --> 5 मीटर प्रति सेकंद कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता: 36 व्होल्ट प्रति मीटर --> 36 व्होल्ट प्रति मीटर कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
चरण 2: फॉर्म्युलाचे मूल्यांकन करा
फॉर्म्युलामध्ये इनपुट व्हॅल्यूजची स्थापना करणे
μe = νd/E --> 5/36
मूल्यांकन करत आहे ... ...
μe = 0.138888888888889
चरण 3: निकाल आउटपुटच्या युनिटमध्ये रूपांतरित करा
0.138888888888889 स्क्वेअर मीटर प्रति व्होल्ट प्रति सेकंद --> कोणतेही रूपांतरण आवश्यक नाही
अंतिम उत्तर
0.138888888888889 0.138889 स्क्वेअर मीटर प्रति व्होल्ट प्रति सेकंद <-- इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता
(गणना 00.004 सेकंदात पूर्ण झाली)

जमा

Creator Image
ने निर्मित प्रतिभा
एमिटी इन्स्टिट्यूट ऑफ अप्लाइड सायन्सेस (एआयएएस, एमिटी युनिव्हर्सिटी), नोएडा, भारत
प्रतिभा यांनी हे कॅल्क्युलेटर आणि 100+ अधिक कॅल्क्युलेटर तयार केले आहेत!
Verifier Image
द्वारे सत्यापित सूपायन बॅनर्जी
राष्ट्रीय न्यायिक विज्ञान विद्यापीठ (NUJS), कोलकाता
सूपायन बॅनर्जी यानी हे कॅल्क्युलेटर आणि 800+ अधिक कॅल्क्युलेटर सत्यापित केले आहेत।

7 इलेक्ट्रोफोरेसीस आणि इतर इलेक्ट्रोकिनेटिक्स घटना कॅल्क्युलेटर

स्मोलुचोव्स्की समीकरण वापरून झिटा पोटेंशिअल दिलेली सॉल्व्हेंटची स्निग्धता
​ जा लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी = (झेटा पोटेंशियल*सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी)/(4*pi*आयनिक गतिशीलता)
स्मोलुचोव्स्की समीकरण वापरून आयोनिक मोबिलिटी झेटा पोटेंशिअल दिली
​ जा आयनिक गतिशीलता = (झेटा पोटेंशियल*सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी)/(4*pi*लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी)
झेटा पोटेंशियल दिलेला सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी
​ जा सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी = (4*pi*लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी*आयनिक गतिशीलता)/झेटा पोटेंशियल
Smoluchowski समीकरण वापरून Zeta Potential
​ जा झेटा पोटेंशियल = (4*pi*लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी*आयनिक गतिशीलता)/सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी
इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता दिलेल्या विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग
​ जा विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग = इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता*इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता
इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता दिलेली इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता
​ जा इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता = विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग/इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता
कणाची इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता
​ जा इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता = विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग/इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता

16 कोलॉइड्सचे महत्त्वाचे सूत्र कॅल्क्युलेटर

पृष्ठभाग एन्थाल्पी दिलेले गंभीर तापमान
​ जा पृष्ठभाग एन्थॅल्पी = (प्रत्येक द्रवासाठी स्थिर)*(1-(तापमान/गंभीर तापमान))^(अनुभवजन्य घटक-1)*(1+((अनुभवजन्य घटक-1)*(तापमान/गंभीर तापमान)))
गंभीर तापमान दिलेले पृष्ठभाग एन्ट्रॉपी
​ जा पृष्ठभाग एन्ट्रॉपी = अनुभवजन्य घटक*प्रत्येक द्रवासाठी स्थिर*(1-(तापमान/गंभीर तापमान))^(अनुभवजन्य घटक)-(1/गंभीर तापमान)
स्मोलुचोव्स्की समीकरण वापरून आयोनिक मोबिलिटी झेटा पोटेंशिअल दिली
​ जा आयनिक गतिशीलता = (झेटा पोटेंशियल*सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी)/(4*pi*लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी)
Smoluchowski समीकरण वापरून Zeta Potential
​ जा झेटा पोटेंशियल = (4*pi*लिक्विडची डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी*आयनिक गतिशीलता)/सॉल्व्हेंटची सापेक्ष परवानगी
गंभीर मायसेल एकाग्रता दिलेल्या सर्फॅक्टंटच्या मोल्सची संख्या
​ जा सर्फॅक्टंटच्या मोल्सची संख्या = (Surfactant एकूण एकाग्रता-गंभीर Micelle एकाग्रता)/Micelle च्या एकत्रीकरणाची पदवी
Micellar कोर त्रिज्या दिलेला Micellar एकत्रीकरण क्रमांक
​ जा Micelle कोर त्रिज्या = ((Micellar एकत्रीकरण क्रमांक*3*हायड्रोफोबिक टेलचे प्रमाण)/(4*pi))^(1/3)
हायड्रोफोबिक टेलची मात्रा दिलेला मायसेलर एग्रीगेशन नंबर
​ जा हायड्रोफोबिक टेलचे प्रमाण = ((4/3)*pi*(Micelle कोर त्रिज्या^3))/Micellar एकत्रीकरण क्रमांक
Micellar एकत्रीकरण क्रमांक
​ जा Micellar एकत्रीकरण क्रमांक = ((4/3)*pi*(Micelle कोर त्रिज्या^3))/हायड्रोफोबिक टेलचे प्रमाण
गंभीर पॅकिंग पॅरामीटर
​ जा गंभीर पॅकिंग पॅरामीटर = सर्फॅक्टंट टेल व्हॉल्यूम/(इष्टतम क्षेत्र*शेपटीची लांबी)
n बेलनाकार कणांच्या अॅरेसाठी विशिष्ट पृष्ठभागाचे क्षेत्रफळ
​ जा विशिष्ट पृष्ठभाग क्षेत्र = (2/घनता)*((1/सिलेंडर त्रिज्या)+(1/लांबी))
कणाची इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता
​ जा इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता = विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग/इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता
पृष्ठभागाची चिकटपणा
​ जा पृष्ठभागाची चिकटपणा = डायनॅमिक व्हिस्कोसिटी/पृष्ठभागाच्या टप्प्याची जाडी
विशिष्ट पृष्ठभागाचे क्षेत्रफळ
​ जा विशिष्ट पृष्ठभाग क्षेत्र = 3/(घनता*गोलाची त्रिज्या)
टॅनफोर्ड समीकरण वापरून हायड्रोकार्बन टेलची गंभीर साखळी लांबी
​ जा हायड्रोकार्बन शेपटीची गंभीर साखळी लांबी = (0.154+(0.1265*कार्बन अणूंची संख्या))
हायड्रोकार्बनची गंभीर साखळी लांबी दिलेल्या कार्बन अणूंची संख्या
​ जा कार्बन अणूंची संख्या = (हायड्रोकार्बन शेपटीची गंभीर साखळी लांबी-0.154)/0.1265
टॅनफोर्ड समीकरण वापरून हायड्रोकार्बन साखळीची मात्रा
​ जा Micelle कोर खंड = (27.4+(26.9*कार्बन अणूंची संख्या))*(10^(-3))

कणाची इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता सुत्र

इलेक्ट्रोफोरेटिक गतिशीलता = विखुरलेल्या कणाचा प्रवाह वेग/इलेक्ट्रिक फील्ड तीव्रता
μe = νd/E
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!