Liczba sieci zawierających zanieczyszczenia Rozwiązanie

KROK 0: Podsumowanie wstępnych obliczeń
Formułę używana
Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia = Frakcja zanieczyszczeń*Razem nie. punktów kratowych
Noccupied = f*N
Ta formuła używa 3 Zmienne
Używane zmienne
Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia - Liczba sieci zajętych przez zanieczyszczenia to liczba sieci krystalicznych niezajętych przez atomy lub jony.
Frakcja zanieczyszczeń - Frakcja zanieczyszczeń to stosunek sieci krystalicznej zajmowanej przez zanieczyszczenie do całkowitej liczby. sieci krystalicznej.
Razem nie. punktów kratowych - W sumie nie. punktów sieci to określone pozycje w krysztale zajmowane przez atomy lub jony.
KROK 1: Zamień wejście (a) na jednostkę bazową
Frakcja zanieczyszczeń: 0.5 --> Nie jest wymagana konwersja
Razem nie. punktów kratowych: 10 --> Nie jest wymagana konwersja
KROK 2: Oceń formułę
Zastępowanie wartości wejściowych we wzorze
Noccupied = f*N --> 0.5*10
Ocenianie ... ...
Noccupied = 5
KROK 3: Konwertuj wynik na jednostkę wyjścia
5 --> Nie jest wymagana konwersja
OSTATNIA ODPOWIEDŹ
5 <-- Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia
(Obliczenie zakończone za 00.004 sekund)

Kredyty

Creator Image
Stworzone przez Prerana Bakli
Uniwersytet Hawajski w Mānoa (UH Manoa), Hawaje, USA
Prerana Bakli utworzył ten kalkulator i 800+ więcej kalkulatorów!
Verifier Image
Zweryfikowane przez Akshada Kulkarni
Narodowy Instytut Informatyki (NIIT), Neemrana
Akshada Kulkarni zweryfikował ten kalkulator i 900+ więcej kalkulatorów!

24 Krata Kalkulatory

Długość krawędzi na podstawie odległości międzypłaszczyznowej kryształu sześciennego
​ Iść Długość krawędzi = Odstępy międzypłaszczyznowe*sqrt((Indeks Millera wzdłuż osi x^2)+(Indeks Millera wzdłuż osi y^2)+(Indeks Millera wzdłuż osi Z^2))
Indeks Millera wzdłuż osi X za pomocą indeksów Weissa
​ Iść Indeks Millera wzdłuż osi x = lcm(Indeks Weissa wzdłuż osi x,Indeks Weissa wzdłuż osi y,Indeks Weissa wzdłuż osi z)/Indeks Weissa wzdłuż osi x
Indeks Millera wzdłuż osi Y za pomocą indeksów Weissa
​ Iść Indeks Millera wzdłuż osi y = lcm(Indeks Weissa wzdłuż osi x,Indeks Weissa wzdłuż osi y,Indeks Weissa wzdłuż osi z)/Indeks Weissa wzdłuż osi y
Indeks Millera wzdłuż osi Z za pomocą indeksów Weissa
​ Iść Indeks Millera wzdłuż osi Z = lcm(Indeks Weissa wzdłuż osi x,Indeks Weissa wzdłuż osi y,Indeks Weissa wzdłuż osi z)/Indeks Weissa wzdłuż osi z
Frakcja zanieczyszczenia w sieci pod względem energii
​ Iść Frakcja zanieczyszczeń = exp(-Energia wymagana na zanieczyszczenie/([R]*Temperatura))
Energia na zanieczyszczenie
​ Iść Energia wymagana na zanieczyszczenie = -ln(Frakcja zanieczyszczeń)*[R]*Temperatura
Ułamek pustostanów w sieci pod względem energii
​ Iść Frakcja wakatu = exp(-Energia wymagana na wakat/([R]*Temperatura))
Energia na wakat
​ Iść Energia wymagana na wakat = -ln(Frakcja wakatu)*[R]*Temperatura
Efektywność pakowania
​ Iść Wydajność pakowania = (Objętość zajmowana przez sfery w komórce elementarnej/Całkowita objętość komórki jednostkowej)*100
Liczba sieci zawierających zanieczyszczenia
​ Iść Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia = Frakcja zanieczyszczeń*Razem nie. punktów kratowych
Frakcja zanieczyszczeń w sieci
​ Iść Frakcja zanieczyszczeń = Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia/Razem nie. punktów kratowych
Indeks Weissa wzdłuż osi Z przy użyciu indeksów Millera
​ Iść Indeks Weissa wzdłuż osi z = LCM indeksów Weissa/Indeks Millera wzdłuż osi Z
Indeks Weissa wzdłuż osi X za pomocą indeksów Millera
​ Iść Indeks Weissa wzdłuż osi x = LCM indeksów Weissa/Indeks Millera wzdłuż osi x
Indeks Weissa wzdłuż osi Y za pomocą indeksów Millera
​ Iść Indeks Weissa wzdłuż osi y = LCM indeksów Weissa/Indeks Millera wzdłuż osi y
Frakcja wakatów w sieci
​ Iść Frakcja wakatu = Liczba wolnej kraty/Razem nie. punktów kratowych
Liczba wolnej kraty
​ Iść Liczba wolnej kraty = Frakcja wakatu*Razem nie. punktów kratowych
Promień cząstki składowej w sieci BCC
​ Iść Promień cząstki składowej = 3*sqrt(3)*Długość krawędzi/4
Stosunek promienia
​ Iść Współczynnik promienia = Promień kationu/Promień anionu
Długość krawędzi wyśrodkowanej powierzchni komórki jednostki
​ Iść Długość krawędzi = 2*sqrt(2)*Promień cząstki składowej
Długość krawędzi wyśrodkowanej komórki jednostkowej ciała
​ Iść Długość krawędzi = 4*Promień cząstki składowej/sqrt(3)
Liczba czworościennych pustek
​ Iść Liczba czworościennych pustych przestrzeni = 2*Liczba zamkniętych sfer upakowanych
Promień cząstki składowej w sieci FCC
​ Iść Promień cząstki składowej = Długość krawędzi/2.83
Promień cząstki składowej w prostej sześciennej komórce jednostkowej
​ Iść Promień cząstki składowej = Długość krawędzi/2
Długość krawędzi prostej sześciennej komórki elementarnej
​ Iść Długość krawędzi = 2*Promień cząstki składowej

Liczba sieci zawierających zanieczyszczenia Formułę

Liczba krat zajętych przez zanieczyszczenia = Frakcja zanieczyszczeń*Razem nie. punktów kratowych
Noccupied = f*N

Jakie są wady kryształu?

Układ atomów we wszystkich materiałach zawiera niedoskonałości, które mają głęboki wpływ na zachowanie materiałów. Wady kratowe można podzielić na trzy 1. Wady punktowe (luki, wady śródmiąższowe, wady zastępcze) 2. Wady liniowe (przemieszczenie śruby, przemieszczenie krawędzi) 3. Wady powierzchni (powierzchnia materiału, granice ziaren)

Dlaczego wada jest ważna?

Istnieje wiele właściwości, które są kontrolowane lub na które mają wpływ wady, na przykład: 1. Przewodność elektryczna i cieplna metali (silnie zmniejszona przez defekty punktowe). 2. Przewodnictwo elektronowe w półprzewodnikach (kontrolowane przez defekty zastępcze). 3. Rozpowszechnianie (kontrolowane wakatami). 4. Przewodnictwo jonowe (kontrolowane przez wolne miejsca). 5. Odkształcenie plastyczne materiałów krystalicznych (kontrolowane przez przemieszczenie). 6. Kolory (z wadami). 7. Wytrzymałość mechaniczna (silnie zależna od wad).

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!