Количество решетки, содержащей примеси Решение

ШАГ 0: Сводка предварительного расчета
Используемая формула
№ решетки, занятой примесями = Доля примесей*Всего нет. точек решетки
Noccupied = f*N
В этой формуле используются 3 Переменные
Используемые переменные
№ решетки, занятой примесями - Число решеток, занятых примесями, — это число кристаллических решеток, незанятых атомами или ионами.
Доля примесей - Доля примесей - это отношение кристаллической решетки, занятой примесью, к общему количеству примесей. кристаллической решетки.
Всего нет. точек решетки - Всего нет. точек решетки - это конкретные позиции в кристалле, занятые атомами или ионами.
ШАГ 1. Преобразование входов в базовый блок
Доля примесей: 0.5 --> Конверсия не требуется
Всего нет. точек решетки: 10 --> Конверсия не требуется
ШАГ 2: Оцените формулу
Подстановка входных значений в формулу
Noccupied = f*N --> 0.5*10
Оценка ... ...
Noccupied = 5
ШАГ 3: Преобразуйте результат в единицу вывода
5 --> Конверсия не требуется
ОКОНЧАТЕЛЬНЫЙ ОТВЕТ
5 <-- № решетки, занятой примесями
(Расчет завершен через 00.004 секунд)

Кредиты

Сделано Прерана Бакли
Гавайский университет в Маноа (УХ Маноа), Гавайи, США
Прерана Бакли создал этот калькулятор и еще 800+!
Проверено Акшада Кулкарни
Национальный институт информационных технологий (НИИТ), Neemrana
Акшада Кулкарни проверил этот калькулятор и еще 900+!

24 Решетка Калькуляторы

Длина ребра с использованием межплоскостного расстояния кубического кристалла
Идти Длина края = Межплоскостное расстояние*sqrt((Индекс Миллера по оси X^2)+(Индекс Миллера по оси Y^2)+(Индекс Миллера по оси Z^2))
Индекс Миллера по оси X с использованием индексов Вейсса
Идти Индекс Миллера по оси X = lcm(Индекс Вейсса по оси X,Индекс Вейсса по оси Y,Индекс Вейсса по оси Z)/Индекс Вейсса по оси X
Индекс Миллера по оси Y с использованием индексов Вейсса
Идти Индекс Миллера по оси Y = lcm(Индекс Вейсса по оси X,Индекс Вейсса по оси Y,Индекс Вейсса по оси Z)/Индекс Вейсса по оси Y
Индекс Миллера по оси Z с использованием индексов Вейсса
Идти Индекс Миллера по оси Z = lcm(Индекс Вейсса по оси X,Индекс Вейсса по оси Y,Индекс Вейсса по оси Z)/Индекс Вейсса по оси Z
Доля вакансии в терминах энергии решетки
Идти Доля вакансии = exp(-Энергия, необходимая на одну вакансию/([R]*Температура))
Энергия на вакансию
Идти Энергия, необходимая на одну вакансию = -ln(Доля вакансии)*[R]*Температура
Доля примеси в пересчете на решетку энергии
Идти Доля примесей = exp(-Энергия, необходимая на примесь/([R]*Температура))
Энергия на примесь
Идти Энергия, необходимая на примесь = -ln(Доля примесей)*[R]*Температура
Эффективность упаковки
Идти Эффективность упаковки = (Объем, занимаемый сферами в элементарной ячейке/Общий объем элементарной ячейки)*100
Количество решетки, содержащей примеси
Идти № решетки, занятой примесями = Доля примесей*Всего нет. точек решетки
Количество вакантных решеток
Идти Количество свободных решеток = Доля вакансии*Всего нет. точек решетки
Доля вакансии в решетке
Идти Доля вакансии = Количество свободных решеток/Всего нет. точек решетки
Доля примеси в решетке
Идти Доля примесей = № решетки, занятой примесями/Всего нет. точек решетки
Индекс Вейса по оси X с использованием индексов Миллера
Идти Индекс Вейсса по оси X = LCM индексов Вайса/Индекс Миллера по оси X
Индекс Вейса по оси Y с использованием индексов Миллера
Идти Индекс Вейсса по оси Y = LCM индексов Вайса/Индекс Миллера по оси Y
Индекс Вейса по оси Z с использованием индексов Миллера
Идти Индекс Вейсса по оси Z = LCM индексов Вайса/Индекс Миллера по оси Z
Коэффициент радиуса
Идти Коэффициент радиуса = Радиус катиона/Радиус аниона
Радиус составляющей частицы в ОЦК решетке
Идти Радиус составной частицы = 3*sqrt(3)*Длина края/4
Длина кромки центрированной по граням элементарной ячейки
Идти Длина края = 2*sqrt(2)*Радиус составной частицы
Длина кромки Телоцентрированной элементарной ячейки
Идти Длина края = 4*Радиус составной частицы/sqrt(3)
Количество тетраэдрических пустот
Идти Количество тетраэдрических пустот = 2*Количество закрытых упакованных сфер
Радиус составляющей частицы в ГЦК решетке
Идти Радиус составной частицы = Длина края/2.83
Радиус составляющей частицы в простой кубической элементарной ячейке
Идти Радиус составной частицы = Длина края/2
Длина ребра простой кубической элементарной ячейки
Идти Длина края = 2*Радиус составной частицы

Количество решетки, содержащей примеси формула

№ решетки, занятой примесями = Доля примесей*Всего нет. точек решетки
Noccupied = f*N

Что такое дефекты в кристалле?

Расположение атомов во всех материалах содержит недостатки, которые сильно влияют на поведение материалов. Дефекты решетки можно разделить на три: 1. Точечные дефекты (вакансии, межузельные дефекты, дефекты замещения) 2. Линейный дефект (винтовая дислокация, краевая дислокация) 3. Поверхностные дефекты (поверхность материала, границы зерен).

Почему дефект важен?

Есть много свойств, которые контролируются или зависят от дефектов, например: 1. Электропроводность и теплопроводность в металлах (сильно снижается из-за точечных дефектов). 2. Электронная проводимость в полупроводниках (контролируемая дефектами замещения). 3. Распространение (контролируемое вакансиями). 4. Ионная проводимость (контролируемая вакансиями). 5. Пластическая деформация кристаллических материалов (контролируемая дислокацией). 6. Цвета (затронутые дефектами). 7. Механическая прочность (сильно зависит от дефектов).

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!