Número de treliça vazia Calculadora

⤿

Malha

Densidade de diferentes células cúbicas

Direção da Malha

Distância interplanar e ângulo interplanar

Fator de Empacotamento Atômico

Volume de célula cúbica diferente

✖A Fração de Vacância é a razão entre a rede cristalina vazia e o número total. de rede cristalina.ⓘ Fração de Vaga [f_vacancy]			+10% -10%
✖O número total de pontos de rede são as posições específicas no cristal ocupadas por átomos ou íons.ⓘ Nº total de pontos de rede [N]			+10% -10%

✖O número de retículos vagos é o número de retículos cristalinos que estão desocupados por átomos ou íons.ⓘ Número de treliça vazia [N_v]

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Fórmula

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Número de treliça vazia

Fórmula

`"N"_{"v"} = "f"_{"vacancy"}*"N"`

Exemplo

`"6"="0.6"*"10"`

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Número de treliça vazia Solução

ETAPA 0: Resumo de pré-cálculo

Fórmula Usada

Número de Malha Vaga = Fração de Vaga*Nº total de pontos de rede
N_v = f_vacancy*N
Esta fórmula usa 3 Variáveis

Variáveis Usadas

Número de Malha Vaga - O número de retículos vagos é o número de retículos cristalinos que estão desocupados por átomos ou íons.
Fração de Vaga - A Fração de Vacância é a razão entre a rede cristalina vazia e o número total. de rede cristalina.
Nº total de pontos de rede - O número total de pontos de rede são as posições específicas no cristal ocupadas por átomos ou íons.

ETAPA 1: Converter entrada (s) em unidade de base

Fração de Vaga: 0.6 --> Nenhuma conversão necessária
Nº total de pontos de rede: 10 --> Nenhuma conversão necessária

ETAPA 2: Avalie a Fórmula

Substituindo valores de entrada na fórmula

N_v = f_vacancy*N --> 0.6*10

Avaliando ... ...

N_v = 6

PASSO 3: Converta o Resultado em Unidade de Saída

6 --> Nenhuma conversão necessária

RESPOSTA FINAL

6 <-- Número de Malha Vaga

(Cálculo concluído em 00.004 segundos)

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Casa » Química » Química de Estado Sólido » Malha » Número de treliça vazia

Créditos

Criado por Prerana Bakli

Universidade do Havaí em Mānoa (UH Manoa), Havaí, EUA

Prerana Bakli criou esta calculadora e mais 800+ calculadoras!

Verificado por Prashant Singh

KJ Somaiya College of Science (KJ Somaiya), Mumbai

Prashant Singh verificou esta calculadora e mais 500+ calculadoras!

< 24 Malha Calculadoras

Índice de Miller ao longo do eixo X usando índices de Weiss

Vai Índice de Miller ao longo do eixo x = lcm(Índice de Weiss ao longo do eixo x,Índice de Weiss ao longo do eixo y,Índice de Weiss ao longo do eixo z)/Índice de Weiss ao longo do eixo x

Índice de Miller ao longo do eixo Y usando índices de Weiss

Vai Índice de Miller ao longo do eixo y = lcm(Índice de Weiss ao longo do eixo x,Índice de Weiss ao longo do eixo y,Índice de Weiss ao longo do eixo z)/Índice de Weiss ao longo do eixo y

Índice de Miller ao longo do eixo Z usando índices Weiss

Vai Índice de Miller ao longo do eixo z = lcm(Índice de Weiss ao longo do eixo x,Índice de Weiss ao longo do eixo y,Índice de Weiss ao longo do eixo z)/Índice de Weiss ao longo do eixo z

Comprimento da borda usando distância interplanar de cristal cúbico

Vai Comprimento da aresta = Espaçamento Interplanar*sqrt((Índice de Miller ao longo do eixo x^2)+(Índice de Miller ao longo do eixo y^2)+(Índice de Miller ao longo do eixo z^2))

Fração de impureza em termos de rede de Energia

Vai Fração de impurezas = exp(-Energia necessária por impureza/([R]*Temperatura))

Energia por impureza

Vai Energia necessária por impureza = -ln(Fração de impurezas)*[R]*Temperatura

Fração de vacância em termos de rede de energia

Vai Fração de Vaga = exp(-Energia necessária por vaga/([R]*Temperatura))

Energia por vaga

Vai Energia necessária por vaga = -ln(Fração de Vaga)*[R]*Temperatura

Eficiência de embalagem

Vai Eficiência de Embalagem = (Volume ocupado por esferas na célula unitária/Volume total da célula unitária)*100

Índice de Weiss ao longo do eixo X usando índices de Miller

Vai Índice de Weiss ao longo do eixo x = LCM de Índices Weiss/Índice de Miller ao longo do eixo x

Índice de Weiss ao longo do eixo Y usando Índices de Miller

Vai Índice de Weiss ao longo do eixo y = LCM de Índices Weiss/Índice de Miller ao longo do eixo y

Índice de Weiss ao longo do eixo Z usando índices de Miller

Vai Índice de Weiss ao longo do eixo z = LCM de Índices Weiss/Índice de Miller ao longo do eixo z

Número de rede contendo impurezas

Vai Nº de Malha Ocupada por Impurezas = Fração de impurezas*Nº total de pontos de rede

Fração de impureza na rede

Vai Fração de impurezas = Nº de Malha Ocupada por Impurezas/Nº total de pontos de rede

Raio da partícula constituinte na rede BCC

Vai Raio da Partícula Constituinte = 3*sqrt(3)*Comprimento da aresta/4

Comprimento da borda da célula da unidade centrada no corpo

Vai Comprimento da aresta = 4*Raio da Partícula Constituinte/sqrt(3)

Comprimento da borda da célula da unidade centrada no rosto

Vai Comprimento da aresta = 2*sqrt(2)*Raio da Partícula Constituinte

Fração de vacância na rede

Vai Fração de Vaga = Número de Malha Vaga/Nº total de pontos de rede

Número de treliça vazia

Vai Número de Malha Vaga = Fração de Vaga*Nº total de pontos de rede

Razão de raio

Vai Relação de raio = Raio do Cátion/Raio do ânion

Número de vazios tetraédricos

Vai Número de vazios tetraédricos = 2*Número de Esferas Embaladas Fechadas

Raio da partícula constituinte na rede FCC

Vai Raio da Partícula Constituinte = Comprimento da aresta/2.83

Raio da partícula constituinte na célula unitária cúbica simples

Vai Raio da Partícula Constituinte = Comprimento da aresta/2

Comprimento da borda da célula unitária cúbica simples

Vai Comprimento da aresta = 2*Raio da Partícula Constituinte

Número de treliça vazia Fórmula

Número de Malha Vaga = Fração de Vaga*Nº total de pontos de rede
N_v = f_vacancy*N

O que são defeitos no cristal?

A disposição dos átomos em todos os materiais contém imperfeições que têm um efeito profundo no comportamento dos materiais. Os defeitos da rede podem ser classificados em três 1. Defeitos pontuais (vagas, defeitos intersticiais, defeitos de substituição) 2. Defeito de linha (deslocamento do parafuso, deslocamento da borda) 3. Defeitos superficiais (superfície do material, limites de grão)

Por que os defeitos são importantes?

Existem muitas propriedades que são controladas ou afetadas por defeitos, por exemplo: 1. Condutividade elétrica e térmica em metais (fortemente reduzida por defeitos pontuais). 2. Condutividade eletrônica em semicondutores (controlada por defeitos de substituição). 3. Difusão (controlada por vagas). 4. Condutividade iônica (controlada por vagas). 5. Deformação plástica em materiais cristalinos (controlada por deslocamento). 6. Cores (afetadas por defeitos). 7. Resistência mecânica (fortemente dependente de defeitos).

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