Abbassa la corrente nella regione di saturazione Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo
Formula utilizzata
Regione di saturazione Abbassa corrente = sum(x,0,Numero di transistor del driver parallelo,(Mobilità elettronica*Capacità dell'ossido/2)*(Larghezza del canale/Lunghezza del canale)*(Tensione della sorgente di gate-Soglia di voltaggio)^2)
ID(sat) = sum(x,0,n,(μn*Cox/2)*(W/L)*(VGS-VT)^2)
Questa formula utilizza 1 Funzioni, 8 Variabili
Funzioni utilizzate
sum - La notazione sommatoria o sigma (∑) è un metodo utilizzato per scrivere una lunga somma in modo conciso., sum(i, from, to, expr)
Variabili utilizzate
Regione di saturazione Abbassa corrente - (Misurato in Ampere) - La corrente di pull down della regione di saturazione è la corrente che attraversa il resistore quando un resistore di pull down viene utilizzato con un MOSFET a canale N in modalità Saturazione.
Numero di transistor del driver parallelo - Il numero di transistor del driver parallelo si riferisce al numero di transistor del driver parallelo nel circuito.
Mobilità elettronica - (Misurato in Metro quadrato per Volt al secondo) - La mobilità elettronica nel MOSFET descrive la facilità con cui gli elettroni possono muoversi attraverso il canale, influenzando direttamente il flusso di corrente per una determinata tensione.
Capacità dell'ossido - (Misurato in Farad) - La capacità di ossido si riferisce alla capacità associata allo strato di ossido isolante in una struttura a semiconduttore a ossido di metallo (MOS), come nei MOSFET.
Larghezza del canale - (Misurato in metro) - La larghezza del canale rappresenta la larghezza del canale conduttivo all'interno di un MOSFET, influenzando direttamente la quantità di corrente che può gestire.
Lunghezza del canale - (Misurato in metro) - La lunghezza del canale in un MOSFET è la distanza tra le regioni di source e drain, che determina la facilità con cui scorre la corrente e influisce sulle prestazioni del transistor.
Tensione della sorgente di gate - (Misurato in Volt) - La tensione Gate Source è la tensione applicata tra i terminali gate e source di un MOSFET.
Soglia di voltaggio - (Misurato in Volt) - La tensione di soglia è la tensione gate-source minima richiesta in un MOSFET per accenderlo e consentire il flusso di una corrente significativa.
PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base
Numero di transistor del driver parallelo: 11 --> Nessuna conversione richiesta
Mobilità elettronica: 9.92 Metro quadrato per Volt al secondo --> 9.92 Metro quadrato per Volt al secondo Nessuna conversione richiesta
Capacità dell'ossido: 3.9 Farad --> 3.9 Farad Nessuna conversione richiesta
Larghezza del canale: 2.678 metro --> 2.678 metro Nessuna conversione richiesta
Lunghezza del canale: 3.45 metro --> 3.45 metro Nessuna conversione richiesta
Tensione della sorgente di gate: 29.65 Volt --> 29.65 Volt Nessuna conversione richiesta
Soglia di voltaggio: 5.91 Volt --> 5.91 Volt Nessuna conversione richiesta
FASE 2: valutare la formula
Sostituzione dei valori di input nella formula
ID(sat) = sum(x,0,n,(μn*Cox/2)*(W/L)*(VGS-VT)^2) --> sum(x,0,11,(9.92*3.9/2)*(2.678/3.45)*(29.65-5.91)^2)
Valutare ... ...
ID(sat) = 101550.118939559
PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output
101550.118939559 Ampere --> Nessuna conversione richiesta
RISPOSTA FINALE
101550.118939559 101550.1 Ampere <-- Regione di saturazione Abbassa corrente
(Calcolo completato in 00.037 secondi)

Titoli di coda

Creator Image
Creato da Vignesh Naidu
Vellore Istituto di Tecnologia (VIT), Vellore, Tamil Nadu
Vignesh Naidu ha creato questa calcolatrice e altre 25+ altre calcolatrici!
Verifier Image
Verificato da Dipanjona Mallick
Heritage Institute of Technology (COLPO), Calcutta
Dipanjona Mallick ha verificato questa calcolatrice e altre 50+ altre calcolatrici!

21 Transistor MOS Calcolatrici

Fattore di equivalenza della tensione della parete laterale
​ Partire Fattore di equivalenza della tensione della parete laterale = -(2*sqrt(Potenziale integrato delle giunzioni delle pareti laterali)/(Voltaggio finale-Tensione iniziale)*(sqrt(Potenziale integrato delle giunzioni delle pareti laterali-Voltaggio finale)-sqrt(Potenziale integrato delle giunzioni delle pareti laterali-Tensione iniziale)))
Abbassa la corrente nella regione lineare
​ Partire Corrente di abbassamento della regione lineare = sum(x,0,Numero di transistor del driver parallelo,(Mobilità elettronica*Capacità dell'ossido/2)*(Larghezza del canale/Lunghezza del canale)*(2*(Tensione della sorgente di gate-Soglia di voltaggio)*Tensione di uscita-Tensione di uscita^2))
Tensione del nodo in una determinata istanza
​ Partire Tensione del nodo in una determinata istanza = (Fattore di transconduttanza/Capacità del nodo)*int(exp(-(1/(Resistenza del nodo*Capacità del nodo))*(Periodo di tempo-x))*Corrente che scorre nel nodo*x,x,0,Periodo di tempo)
Abbassa la corrente nella regione di saturazione
​ Partire Regione di saturazione Abbassa corrente = sum(x,0,Numero di transistor del driver parallelo,(Mobilità elettronica*Capacità dell'ossido/2)*(Larghezza del canale/Lunghezza del canale)*(Tensione della sorgente di gate-Soglia di voltaggio)^2)
Corrente di drenaggio che scorre attraverso il transistor MOS
​ Partire Assorbimento di corrente = (Larghezza del canale/Lunghezza del canale)*Mobilità elettronica*Capacità dell'ossido*int((Tensione della sorgente di gate-x-Soglia di voltaggio),x,0,Tensione della sorgente di drenaggio)
Tempo di saturazione
​ Partire Tempo di saturazione = -2*Capacità di carico/(Parametro del processo di transconduttanza*(Alta tensione di uscita-Soglia di voltaggio)^2)*int(1,x,Alta tensione di uscita,Alta tensione di uscita-Soglia di voltaggio)
Ritardo temporale quando NMOS funziona nella regione lineare
​ Partire Regione lineare nel ritardo temporale = -2*Capacità di giunzione*int(1/(Parametro del processo di transconduttanza*(2*(Tensione di ingresso-Soglia di voltaggio)*x-x^2)),x,Tensione iniziale,Voltaggio finale)
Densità di carica della regione di esaurimento
​ Partire Densità della carica dello strato di esaurimento = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentrazione antidoping dell'accettore*modulus(Potenziale di superficie-Potenziale di Fermi in massa)))
Profondità della regione di svuotamento associata allo scarico
​ Partire Regione della profondità di esaurimento del drenaggio = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Potenziale di giunzione incorporato+Tensione della sorgente di drenaggio))/([Charge-e]*Concentrazione antidoping dell'accettore))
Corrente di drenaggio nella regione di saturazione del transistor MOS
​ Partire Corrente di drenaggio della regione di saturazione = Larghezza del canale*Velocità di deriva degli elettroni in saturazione*int(Carica*Parametro del canale corto,x,0,Lunghezza effettiva del canale)
Potenziale di Fermi per il tipo P
​ Partire Potenziale di Fermi per il tipo P = ([BoltZ]*Temperatura assoluta)/[Charge-e]*ln(Concentrazione intrinseca del portatore/Concentrazione antidoping dell'accettore)
Potenziale di Fermi per il tipo N
​ Partire Potenziale di Fermi per il tipo N = ([BoltZ]*Temperatura assoluta)/[Charge-e]*ln(Concentrazione del drogante del donatore/Concentrazione intrinseca del portatore)
Profondità massima di esaurimento
​ Partire Profondità massima di esaurimento = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Potenziale di Fermi in massa))/([Charge-e]*Concentrazione antidoping dell'accettore))
Potenziale incorporato nella regione di esaurimento
​ Partire Voltaggio integrato = -(sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentrazione antidoping dell'accettore*modulus(-2*Potenziale di Fermi in massa)))
Profondità della regione di esaurimento associata alla sorgente
​ Partire Regione della profondità di esaurimento della fonte = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*Potenziale di giunzione incorporato)/([Charge-e]*Concentrazione antidoping dell'accettore))
Capacità equivalente di segnale grande
​ Partire Capacità equivalente di segnale grande = (1/(Voltaggio finale-Tensione iniziale))*int(Capacità di giunzione*x,x,Tensione iniziale,Voltaggio finale)
Coefficiente di polarizzazione del substrato
​ Partire Coefficiente di polarizzazione del substrato = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentrazione antidoping dell'accettore)/Capacità dell'ossido
Capacità equivalente di giunzione di segnali di grandi dimensioni
​ Partire Capacità equivalente di giunzione di segnali di grandi dimensioni = Perimetro del fianco*Capacità di giunzione della parete laterale*Fattore di equivalenza della tensione della parete laterale
Potenza media dissipata in un periodo di tempo
​ Partire Potenza media = (1/Tempo totale impiegato)*int(Voltaggio*Attuale,x,0,Tempo totale impiegato)
Capacità di giunzione della parete laterale con polarizzazione zero per unità di lunghezza
​ Partire Capacità di giunzione della parete laterale = Potenziale di giunzione della parete laterale con polarizzazione zero*Profondità del fianco
Funzione di lavoro in MOSFET
​ Partire Funzione di lavoro = Livello di vuoto+(Livello energetico della banda di conduzione-Livello Fermi)

Abbassa la corrente nella regione di saturazione Formula

Regione di saturazione Abbassa corrente = sum(x,0,Numero di transistor del driver parallelo,(Mobilità elettronica*Capacità dell'ossido/2)*(Larghezza del canale/Lunghezza del canale)*(Tensione della sorgente di gate-Soglia di voltaggio)^2)
ID(sat) = sum(x,0,n,(μn*Cox/2)*(W/L)*(VGS-VT)^2)
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