| ✖Ширина канала определяется как физическая ширина полупроводникового канала между выводами истока и стока внутри транзисторной структуры.ⓘ ширина канала [Wc] |  |  | +10% -10% | 
| ✖Скорость дрейфа электронов насыщения определяется как максимальная скорость, достигаемая электронами в полупроводниковом материале под действием электрического поля.ⓘ Скорость дрейфа электронов насыщения [vd(sat)] |  |  | +10% -10% | 
| ✖Оксидная емкость на единицу площади определяется как емкость на единицу площади изолирующего оксидного слоя, который отделяет металлический затвор от полупроводникового материала.ⓘ Оксидная емкость на единицу площади [Coxide] |  |  | +10% -10% | 
| ✖Напряжение источника-стока насыщения определяется как напряжение на клеммах стока и истока полевого МОП-транзистора, когда транзистор работает в режиме насыщения.ⓘ Напряжение источника насыщения, стока [VDsat] |  |  | +10% -10% |