Corriente de saturación de canal corto VLSI Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Corriente de saturación de canal corto = Ancho de banda*Velocidad de deriva de electrones de saturación*Capacitancia de óxido por unidad de área*Voltaje de fuente de drenaje de saturación
ID(sat) = Wc*vd(sat)*Coxide*VDsat
Esta fórmula usa 5 Variables
Variables utilizadas
Corriente de saturación de canal corto - (Medido en Amperio) - La corriente de saturación de canal corto se define como la corriente máxima que puede fluir a través de un transistor de canal corto cuando está en modo de saturación.
Ancho de banda - (Medido en Metro) - El ancho del canal se define como el ancho físico del canal semiconductor entre los terminales de fuente y drenaje dentro de la estructura del transistor.
Velocidad de deriva de electrones de saturación - (Medido en Metro por Segundo) - La velocidad de deriva de electrones de saturación se define como la velocidad máxima alcanzada por los electrones en un material semiconductor bajo la influencia de un campo eléctrico.
Capacitancia de óxido por unidad de área - (Medido en Farad por metro cuadrado) - La capacitancia de óxido por unidad de área se define como la capacitancia por unidad de área de la capa de óxido aislante que separa la puerta metálica del material semiconductor.
Voltaje de fuente de drenaje de saturación - (Medido en Voltio) - El voltaje de fuente de drenaje de saturación se define como el voltaje a través de los terminales de fuente y drenaje de un MOSFET cuando el transistor está funcionando en modo de saturación.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Ancho de banda: 2.5 Micrómetro --> 2.5E-06 Metro (Verifique la conversión ​aquí)
Velocidad de deriva de electrones de saturación: 20000000 centímetro por segundo --> 200000 Metro por Segundo (Verifique la conversión ​aquí)
Capacitancia de óxido por unidad de área: 0.0703 Microfaradio por centímetro cuadrado --> 0.000703 Farad por metro cuadrado (Verifique la conversión ​aquí)
Voltaje de fuente de drenaje de saturación: 1.5 Voltio --> 1.5 Voltio No se requiere conversión
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
ID(sat) = Wc*vd(sat)*Coxide*VDsat --> 2.5E-06*200000*0.000703*1.5
Evaluar ... ...
ID(sat) = 0.00052725
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
0.00052725 Amperio -->527.25 Microamperio (Verifique la conversión ​aquí)
RESPUESTA FINAL
527.25 Microamperio <-- Corriente de saturación de canal corto
(Cálculo completado en 00.020 segundos)

Créditos

Creator Image
Creado por Priyanka Patel
Facultad de ingeniería Lalbhai Dalpatbhai (LDCE), Ahmedabad
¡Priyanka Patel ha creado esta calculadora y 25+ más calculadoras!
Verifier Image
Verificada por Santhosh Yadav
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), banglore
¡Santhosh Yadav ha verificado esta calculadora y 50+ más calculadoras!

25 Optimización de materiales VLSI Calculadoras

Región de agotamiento masivo Densidad de carga VLSI
​ Vamos Densidad de carga de la región de agotamiento masivo = -(1-((Extensión lateral de la región de agotamiento con fuente+Extensión lateral de la región de agotamiento con drenaje)/(2*Longitud del canal)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Concentración de aceptor*abs(2*Potencial de superficie))
Coeficiente de efecto corporal
​ Vamos Coeficiente de efecto corporal = modulus((Voltaje umbral-Tensión umbral DIBL)/(sqrt(Potencial de superficie+(Diferencia de potencial del cuerpo fuente))-sqrt(Potencial de superficie)))
Voltaje incorporado de unión VLSI
​ Vamos Voltaje incorporado de unión = ([BoltZ]*Temperatura/[Charge-e])*ln(Concentración de aceptor*Concentración de donantes/(Concentración intrínseca)^2)
Profundidad de agotamiento de la unión PN con fuente VLSI
​ Vamos Profundidad de agotamiento de la unión Pn con fuente = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Voltaje incorporado de unión)/([Charge-e]*Concentración de aceptor))
Capacitancia parasitaria total de la fuente
​ Vamos Capacitancia parásita de fuente = (Capacitancia entre la unión del cuerpo y la fuente.*Área de difusión de fuentes)+(Capacitancia entre la unión del cuerpo y la pared lateral.*Perímetro de difusión de la fuente en la pared lateral)
Corriente de saturación de canal corto VLSI
​ Vamos Corriente de saturación de canal corto = Ancho de banda*Velocidad de deriva de electrones de saturación*Capacitancia de óxido por unidad de área*Voltaje de fuente de drenaje de saturación
Corriente de unión
​ Vamos Corriente de unión = (Energía estática/Voltaje base del colector)-(Corriente subumbral+Contención actual+Corriente de puerta)
Potencial de superficie
​ Vamos Potencial de superficie = 2*Diferencia de potencial del cuerpo fuente*ln(Concentración de aceptor/Concentración intrínseca)
Longitud de puerta usando la capacitancia de óxido de puerta
​ Vamos Longitud de la puerta = Capacitancia de puerta/(Capacitancia de la capa de óxido de puerta*Ancho de la puerta)
Capacitancia de óxido de puerta
​ Vamos Capacitancia de la capa de óxido de puerta = Capacitancia de puerta/(Ancho de la puerta*Longitud de la puerta)
Pendiente subumbral
​ Vamos Pendiente subumbral = Diferencia de potencial del cuerpo fuente*Coeficiente DIBL*ln(10)
Coeficiente DIBL
​ Vamos Coeficiente DIBL = (Tensión umbral DIBL-Voltaje umbral)/Drenar a la fuente potencial
Capacitancia de la puerta
​ Vamos Capacitancia de puerta = Cargo del canal/(Voltaje de puerta a canal-Voltaje umbral)
Voltaje de umbral
​ Vamos Voltaje umbral = Voltaje de puerta a canal-(Cargo del canal/Capacitancia de puerta)
Carga de canal
​ Vamos Cargo del canal = Capacitancia de puerta*(Voltaje de puerta a canal-Voltaje umbral)
Voltaje de umbral cuando la fuente está en el potencial del cuerpo
​ Vamos Tensión umbral DIBL = Coeficiente DIBL*Drenar a la fuente potencial+Voltaje umbral
Capacitancia de óxido después de VLSI de escala completa
​ Vamos Capacitancia de óxido después del escalado completo = Capacitancia de óxido por unidad de área*Factor de escala
Espesor del óxido de compuerta después del VLSI de escala completa
​ Vamos Espesor del óxido de puerta después del escalado completo = Espesor del óxido de la puerta/Factor de escala
Capacitancia de puerta intrínseca
​ Vamos Capacitancia de superposición de puerta MOS = Capacitancia de puerta MOS*Ancho de transición
Profundidad de unión después de VLSI de escala completa
​ Vamos Profundidad de unión después de la escala completa = Profundidad de unión/Factor de escala
Longitud del canal después del VLSI de escala completa
​ Vamos Longitud del canal después de la escala completa = Longitud del canal/Factor de escala
Ancho del canal después del VLSI de escala completa
​ Vamos Ancho del canal después de la escala completa = Ancho de banda/Factor de escala
Voltaje crítico
​ Vamos Voltaje crítico = Campo eléctrico crítico*Campo eléctrico a lo largo del canal
Movilidad en Mosfet
​ Vamos Movilidad en MOSFET = k primer/Capacitancia de la capa de óxido de puerta
K-Prime
​ Vamos k primer = Movilidad en MOSFET*Capacitancia de la capa de óxido de puerta

Corriente de saturación de canal corto VLSI Fórmula

Corriente de saturación de canal corto = Ancho de banda*Velocidad de deriva de electrones de saturación*Capacitancia de óxido por unidad de área*Voltaje de fuente de drenaje de saturación
ID(sat) = Wc*vd(sat)*Coxide*VDsat
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!