Voltaje crítico Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Voltaje crítico = Campo eléctrico crítico*Campo eléctrico a lo largo del canal
Vx = Ex*Ech
Esta fórmula usa 3 Variables
Variables utilizadas
Voltaje crítico - (Medido en Voltio) - El voltaje crítico es la fase mínima del voltaje neutro que brilla y aparece a lo largo de todo el conductor de línea.
Campo eléctrico crítico - (Medido en voltios por metro) - El campo eléctrico crítico se define como la fuerza eléctrica por unidad de carga.
Campo eléctrico a lo largo del canal - (Medido en voltios por metro) - Campo eléctrico a lo largo del canal es el campo eléctrico producido en el canal durante el proceso.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Campo eléctrico crítico: 0.004 voltios por milímetro --> 4 voltios por metro (Verifique la conversión aquí)
Campo eléctrico a lo largo del canal: 0.007 voltios por milímetro --> 7 voltios por metro (Verifique la conversión aquí)
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
Vx = Ex*Ech --> 4*7
Evaluar ... ...
Vx = 28
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
28 Voltio --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
28 Voltio <-- Voltaje crítico
(Cálculo completado en 00.004 segundos)

Créditos

Creado por Shobhit Dimri
Instituto de Tecnología Bipin Tripathi Kumaon (BTKIT), Dwarahat
¡Shobhit Dimri ha creado esta calculadora y 900+ más calculadoras!
Verificada por Urvi Rathod
Facultad de Ingeniería del Gobierno de Vishwakarma (VGEC), Ahmedabad
¡Urvi Rathod ha verificado esta calculadora y 1900+ más calculadoras!

25 Optimización de materiales VLSI Calculadoras

Región de agotamiento masivo Densidad de carga VLSI
Vamos Densidad de carga de la región de agotamiento masivo = -(1-((Extensión lateral de la región de agotamiento con fuente+Extensión lateral de la región de agotamiento con drenaje)/(2*Longitud del canal)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Concentración de aceptor*abs(2*Potencial de superficie))
Coeficiente de efecto corporal
Vamos Coeficiente de efecto corporal = modulus((Voltaje umbral-Tensión umbral DIBL)/(sqrt(Potencial de superficie+(Diferencia de potencial del cuerpo fuente))-sqrt(Potencial de superficie)))
Voltaje incorporado de unión VLSI
Vamos Voltaje incorporado de unión = ([BoltZ]*Temperatura/[Charge-e])*ln(Concentración de aceptor*Concentración de donantes/(Concentración intrínseca)^2)
Profundidad de agotamiento de la unión PN con fuente VLSI
Vamos Profundidad de agotamiento de la unión Pn con fuente = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Voltaje incorporado de unión)/([Charge-e]*Concentración de aceptor))
Capacitancia parasitaria total de la fuente
Vamos Capacitancia parásita de fuente = (Capacitancia entre la unión del cuerpo y la fuente.*Área de difusión de fuentes)+(Capacitancia entre la unión del cuerpo y la pared lateral.*Perímetro de difusión de la fuente en la pared lateral)
Corriente de saturación de canal corto VLSI
Vamos Corriente de saturación de canal corto = Ancho de banda*Velocidad de deriva de electrones de saturación*Capacitancia de óxido por unidad de área*Voltaje de fuente de drenaje de saturación
Corriente de unión
Vamos Corriente de unión = (Energía estática/Voltaje base del colector)-(Corriente subumbral+Contención actual+Corriente de puerta)
Potencial de superficie
Vamos Potencial de superficie = 2*Diferencia de potencial del cuerpo fuente*ln(Concentración de aceptor/Concentración intrínseca)
Longitud de puerta usando la capacitancia de óxido de puerta
Vamos Longitud de la puerta = Capacitancia de puerta/(Capacitancia de la capa de óxido de puerta*Ancho de la puerta)
Capacitancia de óxido de puerta
Vamos Capacitancia de la capa de óxido de puerta = Capacitancia de puerta/(Ancho de la puerta*Longitud de la puerta)
Pendiente subumbral
Vamos Pendiente subumbral = Diferencia de potencial del cuerpo fuente*Coeficiente DIBL*ln(10)
Capacitancia de la puerta
Vamos Capacitancia de puerta = Cargo del canal/(Voltaje de puerta a canal-Voltaje umbral)
Voltaje de umbral
Vamos Voltaje umbral = Voltaje de puerta a canal-(Cargo del canal/Capacitancia de puerta)
Voltaje de umbral cuando la fuente está en el potencial del cuerpo
Vamos Tensión umbral DIBL = Coeficiente DIBL*Drenar a la fuente potencial+Voltaje umbral
Coeficiente DIBL
Vamos Coeficiente DIBL = (Tensión umbral DIBL-Voltaje umbral)/Drenar a la fuente potencial
Carga de canal
Vamos Cargo del canal = Capacitancia de puerta*(Voltaje de puerta a canal-Voltaje umbral)
Capacitancia de óxido después de VLSI de escala completa
Vamos Capacitancia de óxido después del escalado completo = Capacitancia de óxido por unidad de área*Factor de escala
Espesor del óxido de compuerta después del VLSI de escala completa
Vamos Espesor del óxido de puerta después del escalado completo = Espesor del óxido de la puerta/Factor de escala
Capacitancia de puerta intrínseca
Vamos Capacitancia de superposición de puerta MOS = Capacitancia de puerta MOS*Ancho de transición
Profundidad de unión después de VLSI de escala completa
Vamos Profundidad de unión después de la escala completa = Profundidad de unión/Factor de escala
Longitud del canal después del VLSI de escala completa
Vamos Longitud del canal después de la escala completa = Longitud del canal/Factor de escala
Ancho del canal después del VLSI de escala completa
Vamos Ancho del canal después de la escala completa = Ancho de banda/Factor de escala
Voltaje crítico
Vamos Voltaje crítico = Campo eléctrico crítico*Campo eléctrico a lo largo del canal
Movilidad en Mosfet
Vamos Movilidad en MOSFET = k primer/Capacitancia de la capa de óxido de puerta
K-Prime
Vamos k primer = Movilidad en MOSFET*Capacitancia de la capa de óxido de puerta

Voltaje crítico Fórmula

Voltaje crítico = Campo eléctrico crítico*Campo eléctrico a lo largo del canal
Vx = Ex*Ech

¿Qué es la degradación de la movilidad?

Un alto voltaje en la puerta del transistor atrae a los portadores al borde del canal, provocando colisiones con la interfaz de óxido que ralentizan a los portadores. Esto se llama degradación de la movilidad.

¿Qué es la saturación de velocidad?

Los portadores se acercan a una velocidad máxima vsat cuando se aplican campos altos. Este fenómeno se denomina saturación de velocidad.

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