Capacitancia de unión de polarización cero Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Capacitancia de unión de polarización cero = sqrt((Permitividad del silicio*[Charge-e])/2*((Concentración de dopaje del aceptor*Concentración de dopaje del donante)/(Concentración de dopaje del aceptor+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial de unión incorporado)
Cj0 = sqrt((εsi*[Charge-e])/2*((NA*ND)/(NA+ND))*1/Φo)
Esta fórmula usa 1 Constantes, 1 Funciones, 5 Variables
Constantes utilizadas
[Charge-e] - carga de electrones Valor tomado como 1.60217662E-19
Funciones utilizadas
sqrt - Una función de raíz cuadrada es una función que toma un número no negativo como entrada y devuelve la raíz cuadrada del número de entrada dado., sqrt(Number)
Variables utilizadas
Capacitancia de unión de polarización cero - (Medido en Faradio) - La capacitancia de unión de polarización cero se refiere al potencial incorporado de una unión de semiconductores cuando no se le aplica voltaje externo (polarización).
Permitividad del silicio - (Medido en farad por metro) - La permitividad del silicio es una propiedad del material que describe cómo responde un material a un campo eléctrico.
Concentración de dopaje del aceptor - (Medido en Electrones por metro cúbico) - La concentración de dopaje del aceptor se refiere a la concentración de átomos aceptores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
Concentración de dopaje del donante - (Medido en Electrones por metro cúbico) - La concentración de dopaje del donante se refiere a la concentración de átomos donadores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
Potencial de unión incorporado - (Medido en Voltio) - El potencial de unión incorporado se refiere a la diferencia de potencial o voltaje que existe a través de una unión semiconductora cuando no está conectada a una fuente de voltaje externa.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Permitividad del silicio: 11.7 farad por metro --> 11.7 farad por metro No se requiere conversión
Concentración de dopaje del aceptor: 1.32 Electrones por centímetro cúbico --> 1320000 Electrones por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
Concentración de dopaje del donante: 3.01 Electrones por centímetro cúbico --> 3010000 Electrones por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
Potencial de unión incorporado: 2 Voltio --> 2 Voltio No se requiere conversión
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
Cj0 = sqrt((εsi*[Charge-e])/2*((NA*ND)/(NA+ND))*1/Φo) --> sqrt((11.7*[Charge-e])/2*((1320000*3010000)/(1320000+3010000))*1/2)
Evaluar ... ...
Cj0 = 6.55759204749238E-07
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
6.55759204749238E-07 Faradio --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
6.55759204749238E-07 6.6E-7 Faradio <-- Capacitancia de unión de polarización cero
(Cálculo completado en 00.004 segundos)

Créditos

Creator Image
Creado por banuprakash
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
¡banuprakash ha creado esta calculadora y 50+ más calculadoras!
Verifier Image
Verificada por Dipanjona Mallick
Instituto Tecnológico del Patrimonio (hitk), Calcuta
¡Dipanjona Mallick ha verificado esta calculadora y 50+ más calculadoras!

2 Amplificadores MOSFET Calculadoras

Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero
​ Vamos Potencial de unión de pared lateral de polarización cero = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((Densidad de dopaje en los flancos*Concentración de dopaje del donante)/(Densidad de dopaje en los flancos+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial incorporado de uniones de paredes laterales)
Capacitancia de unión de polarización cero
​ Vamos Capacitancia de unión de polarización cero = sqrt((Permitividad del silicio*[Charge-e])/2*((Concentración de dopaje del aceptor*Concentración de dopaje del donante)/(Concentración de dopaje del aceptor+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial de unión incorporado)

Capacitancia de unión de polarización cero Fórmula

Capacitancia de unión de polarización cero = sqrt((Permitividad del silicio*[Charge-e])/2*((Concentración de dopaje del aceptor*Concentración de dopaje del donante)/(Concentración de dopaje del aceptor+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial de unión incorporado)
Cj0 = sqrt((εsi*[Charge-e])/2*((NA*ND)/(NA+ND))*1/Φo)
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