Concentrazione del drogante del donatore Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo
Formula utilizzata
Concentrazione del drogante del donatore = (Corrente di saturazione*Lunghezza del transistor)/([Charge-e]*Larghezza del transistor*Mobilità elettronica*Capacità dello strato di esaurimento)
Nd = (Isat*Lt)/([Charge-e]*Wt*μn*Cdep)
Questa formula utilizza 1 Costanti, 6 Variabili
Costanti utilizzate
[Charge-e] - Carica dell'elettrone Valore preso come 1.60217662E-19
Variabili utilizzate
Concentrazione del drogante del donatore - (Misurato in Elettroni per metro cubo) - La concentrazione del drogante donatore è la concentrazione di atomi donatori per unità di volume.
Corrente di saturazione - (Misurato in Ampere) - La corrente di saturazione si riferisce alla corrente massima che può fluire attraverso il transistor quando è completamente acceso.
Lunghezza del transistor - (Misurato in Metro) - La lunghezza del transistor si riferisce alla lunghezza della regione del canale in un MOSFET. Questa dimensione gioca un ruolo cruciale nel determinare le caratteristiche elettriche e le prestazioni del transistor.
Larghezza del transistor - (Misurato in Metro) - La larghezza del transistor si riferisce alla larghezza della regione del canale in un MOSFET. Questa dimensione gioca un ruolo cruciale nel determinare le caratteristiche elettriche e le prestazioni del transistor.
Mobilità elettronica - (Misurato in Metro quadrato per Volt al secondo) - La mobilità elettronica descrive la velocità con cui gli elettroni possono muoversi attraverso il materiale in risposta a un campo elettrico.
Capacità dello strato di esaurimento - (Misurato in Farad) - La capacità dello strato di svuotamento per unità di area è la capacità dello strato di svuotamento per unità di area.
PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base
Corrente di saturazione: 2.015 Ampere --> 2.015 Ampere Nessuna conversione richiesta
Lunghezza del transistor: 3.2 Micrometro --> 3.2E-06 Metro (Controlla la conversione ​qui)
Larghezza del transistor: 5.5 Micrometro --> 5.5E-06 Metro (Controlla la conversione ​qui)
Mobilità elettronica: 30 Metro quadrato per Volt al secondo --> 30 Metro quadrato per Volt al secondo Nessuna conversione richiesta
Capacità dello strato di esaurimento: 1.4 Microfarad --> 1.4E-06 Farad (Controlla la conversione ​qui)
FASE 2: valutare la formula
Sostituzione dei valori di input nella formula
Nd = (Isat*Lt)/([Charge-e]*Wtn*Cdep) --> (2.015*3.2E-06)/([Charge-e]*5.5E-06*30*1.4E-06)
Valutare ... ...
Nd = 1.74221865211214E+23
PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output
1.74221865211214E+23 Elettroni per metro cubo --> Nessuna conversione richiesta
RISPOSTA FINALE
1.74221865211214E+23 1.7E+23 Elettroni per metro cubo <-- Concentrazione del drogante del donatore
(Calcolo completato in 00.004 secondi)

Titoli di coda

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Fabbricazione di circuiti integrati MOS Calcolatrici

Effetto corpo nel MOSFET
​ LaTeX ​ Partire Tensione di soglia con substrato = Tensione di soglia con zero body bias+Parametro dell'effetto corporeo*(sqrt(2*Potenziale di Fermi in massa+Tensione applicata al corpo)-sqrt(2*Potenziale di Fermi in massa))
Corrente di drenaggio del MOSFET nella regione di saturazione
​ LaTeX ​ Partire Assorbimento di corrente = Parametro di transconduttanza/2*(Tensione della sorgente di gate-Tensione di soglia con zero body bias)^2*(1+Fattore di modulazione della lunghezza del canale*Tensione della sorgente di drenaggio)
Resistenza del canale
​ LaTeX ​ Partire Resistenza del canale = Lunghezza del transistor/Larghezza del transistor*1/(Mobilità elettronica*Densità del portatore)
Frequenza di guadagno unitario MOSFET
​ LaTeX ​ Partire Frequenza di guadagno unitario nel MOSFET = Transconduttanza nei MOSFET/(Capacità della sorgente di gate+Capacità di scarico del cancello)

Concentrazione del drogante del donatore Formula

​LaTeX ​Partire
Concentrazione del drogante del donatore = (Corrente di saturazione*Lunghezza del transistor)/([Charge-e]*Larghezza del transistor*Mobilità elettronica*Capacità dello strato di esaurimento)
Nd = (Isat*Lt)/([Charge-e]*Wt*μn*Cdep)
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