Concentrazione di elettroni in condizioni sbilanciate Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo
Formula utilizzata
Concentrazione di elettroni = Concentrazione elettronica intrinseca*exp((Livello di elettroni quasi Fermi-Livello energetico intrinseco del semiconduttore)/([BoltZ]*Temperatura assoluta))
ne = ni*exp((Fn-Ei)/([BoltZ]*T))
Questa formula utilizza 1 Costanti, 1 Funzioni, 5 Variabili
Costanti utilizzate
[BoltZ] - Costante di Boltzmann Valore preso come 1.38064852E-23
Funzioni utilizzate
exp - In una funzione esponenziale, il valore della funzione cambia di un fattore costante per ogni variazione unitaria della variabile indipendente., exp(Number)
Variabili utilizzate
Concentrazione di elettroni - (Misurato in Elettroni per metro cubo) - La concentrazione di elettroni si riferisce al numero di elettroni per unità di volume in un semiconduttore in condizioni di non equilibrio.
Concentrazione elettronica intrinseca - (Misurato in Elettroni per metro cubo) - La concentrazione elettronica intrinseca è la n. dei portatori di carica in un semiconduttore quando è in equilibrio termico.
Livello di elettroni quasi Fermi - (Misurato in Joule) - Il livello di elettroni quasi Fermi è il livello energetico effettivo per gli elettroni in una condizione di non equilibrio. Rappresenta l'energia fino alla quale si popolano gli elettroni.
Livello energetico intrinseco del semiconduttore - (Misurato in Joule) - Il livello di energia intrinseca del semiconduttore si riferisce al livello di energia associato agli elettroni in assenza di impurità o influenze esterne.
Temperatura assoluta - (Misurato in Kelvin) - La temperatura assoluta rappresenta la temperatura del sistema.
PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base
Concentrazione elettronica intrinseca: 3.6 Elettroni per metro cubo --> 3.6 Elettroni per metro cubo Nessuna conversione richiesta
Livello di elettroni quasi Fermi: 3.7 Electron-Volt --> 5.92805612100003E-19 Joule (Controlla la conversione ​qui)
Livello energetico intrinseco del semiconduttore: 3.78 Electron-Volt --> 6.05623030740003E-19 Joule (Controlla la conversione ​qui)
Temperatura assoluta: 393 Kelvin --> 393 Kelvin Nessuna conversione richiesta
FASE 2: valutare la formula
Sostituzione dei valori di input nella formula
ne = ni*exp((Fn-Ei)/([BoltZ]*T)) --> 3.6*exp((5.92805612100003E-19-6.05623030740003E-19)/([BoltZ]*393))
Valutare ... ...
ne = 0.33915064947035
PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output
0.33915064947035 Elettroni per metro cubo --> Nessuna conversione richiesta
RISPOSTA FINALE
0.33915064947035 0.339151 Elettroni per metro cubo <-- Concentrazione di elettroni
(Calcolo completato in 00.004 secondi)

Titoli di coda

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Creato da Gowthaman N
Vellore Istituto di Tecnologia (Università VIT), Chennai
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Università di Chandigarh (CU), Punjab
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14 Dispositivi con componenti ottici Calcolatrici

Capacità di giunzione PN
​ Partire Capacità di giunzione = Area di giunzione PN/2*sqrt((2*[Charge-e]*Permittività relativa*[Permitivity-silicon])/(Tensione attraverso la giunzione PN-(Tensione di polarizzazione inversa))*((Concentrazione dell'accettore*Concentrazione dei donatori)/(Concentrazione dell'accettore+Concentrazione dei donatori)))
Concentrazione di elettroni in condizioni sbilanciate
​ Partire Concentrazione di elettroni = Concentrazione elettronica intrinseca*exp((Livello di elettroni quasi Fermi-Livello energetico intrinseco del semiconduttore)/([BoltZ]*Temperatura assoluta))
Lunghezza di diffusione della regione di transizione
​ Partire Lunghezza di diffusione della regione di transizione = Corrente ottica/(Carica*Area di giunzione PN*Tasso di generazione ottica)-(Larghezza di transizione+Lunghezza della giunzione lato P)
Corrente dovuta alla portante generata otticamente
​ Partire Corrente ottica = Carica*Area di giunzione PN*Tasso di generazione ottica*(Larghezza di transizione+Lunghezza di diffusione della regione di transizione+Lunghezza della giunzione lato P)
Picco di ritardo
​ Partire Picco di ritardo = (2*pi)/Lunghezza d'onda della luce*Lunghezza della fibra*Indice di rifrazione^3*Tensione di modulazione
Angolo di accettazione massimo della lente composta
​ Partire Angolo di accettazione = asin(Indice di rifrazione del mezzo 1*Raggio della lente*sqrt(Costante positiva))
Densità effettiva degli stati in banda di conduzione
​ Partire Densità effettiva degli Stati = 2*(2*pi*Massa effettiva dell'elettrone*[BoltZ]*Temperatura assoluta/[hP]^2)^(3/2)
Coefficiente di diffusione dell'elettrone
​ Partire Coefficiente di diffusione degli elettroni = Mobilità dell'elettrone*[BoltZ]*Temperatura assoluta/[Charge-e]
Diffrazione mediante la formula di Fresnel-Kirchoff
​ Partire Angolo di diffrazione = asin(1.22*Lunghezza d'onda della luce visibile/Diametro dell'apertura)
Spaziatura della frangia dato l'angolo dell'apice
​ Partire Spazio marginale = Lunghezza d'onda della luce visibile/(2*tan(Angolo di interferenza))
Angolo di Brewsters
​ Partire L'angolo di Brewster = arctan(Indice di rifrazione del mezzo 1/Indice di rifrazione)
Energia di eccitazione
​ Partire Energia di eccitazione = 1.6*10^-19*13.6*(Massa effettiva dell'elettrone/[Mass-e])*(1/[Permitivity-silicon]^2)
Angolo di rotazione del piano di polarizzazione
​ Partire Angolo di rotazione = 1.8*Densità del flusso magnetico*Lunghezza del mezzo
Angolo dell'apice
​ Partire Angolo dell'apice = tan(Alfa)

Concentrazione di elettroni in condizioni sbilanciate Formula

Concentrazione di elettroni = Concentrazione elettronica intrinseca*exp((Livello di elettroni quasi Fermi-Livello energetico intrinseco del semiconduttore)/([BoltZ]*Temperatura assoluta))
ne = ni*exp((Fn-Ei)/([BoltZ]*T))

Perché il livello di Fermi è cruciale nel descrivere la concentrazione di elettroni di non equilibrio nei semiconduttori?

Il livello quasi-Fermi riflette l'energia effettiva alla quale gli elettroni sono popolati in condizioni di non equilibrio. Nella formula influenza il termine esponenziale, catturando le deviazioni dall'equilibrio termico e illustrando l'impatto dei livelli energetici sulla concentrazione di elettroni.

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