Fator de equivalência de tensão na parede lateral Solução

ETAPA 0: Resumo de pré-cálculo
Fórmula Usada
Fator de equivalência de tensão na parede lateral = -(2*sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais)/(Tensão Final-Tensão Inicial)*(sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Final)-sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Inicial)))
Keq(sw) = -(2*sqrt(Φosw)/(V2-V1)*(sqrt(Φosw-V2)-sqrt(Φosw-V1)))
Esta fórmula usa 1 Funções, 4 Variáveis
Funções usadas
sqrt - Uma função de raiz quadrada é uma função que recebe um número não negativo como entrada e retorna a raiz quadrada do número de entrada fornecido., sqrt(Number)
Variáveis Usadas
Fator de equivalência de tensão na parede lateral - O Fator de Equivalência de Tensão da Parede Lateral representa a relação entre a tensão aplicada a um dispositivo semicondutor e a mudança resultante na capacitância da junção da parede lateral por unidade de área.
Potencial integrado de junções de paredes laterais - (Medido em Volt) - Potencial integrado de junções de parede lateral refere-se à junção formada ao longo das superfícies verticais ou da parede lateral da estrutura do transistor.
Tensão Final - (Medido em Volt) - Tensão Final refere-se ao nível de tensão alcançado ou medido na conclusão de um processo ou evento específico.
Tensão Inicial - (Medido em Volt) - Tensão Inicial refere-se à tensão presente em um ponto específico de um circuito no início de uma determinada operação ou sob condições específicas.
ETAPA 1: Converter entrada (s) em unidade de base
Potencial integrado de junções de paredes laterais: 3.2E-05 Volt --> 3.2E-05 Volt Nenhuma conversão necessária
Tensão Final: 6.135 Nanovalt --> 6.135E-09 Volt (Verifique a conversão ​aqui)
Tensão Inicial: 5.42 Nanovalt --> 5.42E-09 Volt (Verifique a conversão ​aqui)
ETAPA 2: Avalie a Fórmula
Substituindo valores de entrada na fórmula
Keq(sw) = -(2*sqrt(Φosw)/(V2-V1)*(sqrt(Φosw-V2)-sqrt(Φosw-V1))) --> -(2*sqrt(3.2E-05)/(6.135E-09-5.42E-09)*(sqrt(3.2E-05-6.135E-09)-sqrt(3.2E-05-5.42E-09)))
Avaliando ... ...
Keq(sw) = 1.00009028568687
PASSO 3: Converta o Resultado em Unidade de Saída
1.00009028568687 --> Nenhuma conversão necessária
RESPOSTA FINAL
1.00009028568687 1.00009 <-- Fator de equivalência de tensão na parede lateral
(Cálculo concluído em 00.020 segundos)

Créditos

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Criado por banuprakash
Faculdade de Engenharia Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
banuprakash criou esta calculadora e mais 50+ calculadoras!
Verifier Image
Verificado por Dipanjona Mallick
Instituto Patrimonial de Tecnologia (HITK), Calcutá
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21 Transistor MOS Calculadoras

Fator de equivalência de tensão na parede lateral
​ Vai Fator de equivalência de tensão na parede lateral = -(2*sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais)/(Tensão Final-Tensão Inicial)*(sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Final)-sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Inicial)))
Puxar para baixo a corrente na região linear
​ Vai Corrente de redução da região linear = sum(x,0,Número de transistores de driver paralelo,(Mobilidade Eletrônica*Capacitância de Óxido/2)*(Largura de banda/Comprimento do canal)*(2*(Tensão da Fonte da Porta-Tensão de limiar)*Voltagem de saída-Voltagem de saída^2))
Tensão do nó em determinada instância
​ Vai Tensão do nó em determinada instância = (Fator de Transcondutância/Capacitância do nó)*int(exp(-(1/(Resistência do nó*Capacitância do nó))*(Período de tempo-x))*Corrente fluindo para o nó*x,x,0,Período de tempo)
Puxe para baixo a corrente na região de saturação
​ Vai Corrente de redução da região de saturação = sum(x,0,Número de transistores de driver paralelo,(Mobilidade Eletrônica*Capacitância de Óxido/2)*(Largura de banda/Comprimento do canal)*(Tensão da Fonte da Porta-Tensão de limiar)^2)
Tempo de saturação
​ Vai Tempo de saturação = -2*Capacitância de Carga/(Parâmetro do Processo de Transcondutância*(Alta Tensão de Saída-Tensão de limiar)^2)*int(1,x,Alta Tensão de Saída,Alta Tensão de Saída-Tensão de limiar)
Corrente de drenagem que flui através do transistor MOS
​ Vai Corrente de drenagem = (Largura de banda/Comprimento do canal)*Mobilidade Eletrônica*Capacitância de Óxido*int((Tensão da Fonte da Porta-x-Tensão de limiar),x,0,Tensão da fonte de drenagem)
Densidade de Carga da Região de Esgotamento
​ Vai Densidade de Carga da Camada de Esgotamento = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentração de Dopagem do Aceitante*modulus(Potencial de Superfície-Potencial de Fermi em massa)))
Atraso de tempo quando o NMOS opera na região linear
​ Vai Região Linear em Atraso de Tempo = -2*Capacitância de Junção*int(1/(Parâmetro do Processo de Transcondutância*(2*(Tensão de entrada-Tensão de limiar)*x-x^2)),x,Tensão Inicial,Tensão Final)
Profundidade da região de esgotamento associada ao dreno
​ Vai Região de profundidade de esgotamento do dreno = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Potencial de junção integrado+Tensão da fonte de drenagem))/([Charge-e]*Concentração de Dopagem do Aceitante))
Corrente de drenagem na região de saturação no transistor MOS
​ Vai Corrente de drenagem da região de saturação = Largura de banda*Velocidade de deriva de elétrons de saturação*int(Carregar*Parâmetro de canal curto,x,0,Comprimento Efetivo do Canal)
Profundidade Máxima de Esgotamento
​ Vai Profundidade Máxima de Esgotamento = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Potencial de Fermi em massa))/([Charge-e]*Concentração de Dopagem do Aceitante))
Potencial de Fermi para tipo P
​ Vai Potencial de Fermi para tipo P = ([BoltZ]*Temperatura absoluta)/[Charge-e]*ln(Concentração Intrínseca de Portadores/Concentração de Dopagem do Aceitante)
Potencial de Fermi para tipo N
​ Vai Potencial de Fermi para tipo N = ([BoltZ]*Temperatura absoluta)/[Charge-e]*ln(Concentração de dopante doador/Concentração Intrínseca de Portadores)
Potencial integrado na região de esgotamento
​ Vai Tensão embutida = -(sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentração de Dopagem do Aceitante*modulus(-2*Potencial de Fermi em massa)))
Capacitância equivalente de sinal grande
​ Vai Capacitância equivalente de sinal grande = (1/(Tensão Final-Tensão Inicial))*int(Capacitância de Junção*x,x,Tensão Inicial,Tensão Final)
Profundidade da região de esgotamento associada à fonte
​ Vai Região de profundidade de esgotamento da fonte = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*Potencial de junção integrado)/([Charge-e]*Concentração de Dopagem do Aceitante))
Coeficiente de polarização do substrato
​ Vai Coeficiente de polarização do substrato = sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Concentração de Dopagem do Aceitante)/Capacitância de Óxido
Capacitância equivalente de junção de sinal grande
​ Vai Capacitância equivalente de junção de sinal grande = Perímetro da parede lateral*Capacitância de Junção Lateral*Fator de equivalência de tensão na parede lateral
Potência Média Dissipada ao Longo do Tempo
​ Vai Potencia média = (1/Tempo total gasto)*int(Tensão*Atual,x,0,Tempo Total Levado)
Capacitância da junção da parede lateral com polarização zero por unidade de comprimento
​ Vai Capacitância de Junção Lateral = Potencial de junção da parede lateral com polarização zero*Profundidade da parede lateral
Função de trabalho no MOSFET
​ Vai Função no trabalho = Nível de vácuo+(Nível de energia da banda de condução-Nível Fermi)

Fator de equivalência de tensão na parede lateral Fórmula

Fator de equivalência de tensão na parede lateral = -(2*sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais)/(Tensão Final-Tensão Inicial)*(sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Final)-sqrt(Potencial integrado de junções de paredes laterais-Tensão Inicial)))
Keq(sw) = -(2*sqrt(Φosw)/(V2-V1)*(sqrt(Φosw-V2)-sqrt(Φosw-V1)))
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