Napięcie nasycenia za pomocą napięcia progowego Rozwiązanie

KROK 0: Podsumowanie wstępnych obliczeń
Formułę używana
Napięcie nasycenia = Napięcie źródła bramki-Próg napięcia
Vds = Vgs-Vth
Ta formuła używa 3 Zmienne
Używane zmienne
Napięcie nasycenia - (Mierzone w Wolt) - Napięcie nasycenia w tranzystorze to napięcie między drenem a źródłem oraz jego kolektorem i emiterem, które jest potrzebne do nasycenia.
Napięcie źródła bramki - (Mierzone w Wolt) - Napięcie źródła bramki tranzystora to napięcie, które spada na zacisk bramki-źródła tranzystora.
Próg napięcia - (Mierzone w Wolt) - Napięcie progowe tranzystora to minimalne napięcie bramka-źródło, które jest potrzebne do utworzenia ścieżki przewodzącej między zaciskami źródła i drenu.
KROK 1: Zamień wejście (a) na jednostkę bazową
Napięcie źródła bramki: 1.25 Wolt --> 1.25 Wolt Nie jest wymagana konwersja
Próg napięcia: 0.7 Wolt --> 0.7 Wolt Nie jest wymagana konwersja
KROK 2: Oceń formułę
Zastępowanie wartości wejściowych we wzorze
Vds = Vgs-Vth --> 1.25-0.7
Ocenianie ... ...
Vds = 0.55
KROK 3: Konwertuj wynik na jednostkę wyjścia
0.55 Wolt --> Nie jest wymagana konwersja
OSTATNIA ODPOWIEDŹ
0.55 Wolt <-- Napięcie nasycenia
(Obliczenie zakończone za 00.004 sekund)

Kredyty

Creator Image
Stworzone przez Akshada Kulkarni
Narodowy Instytut Informatyki (NIIT), Neemrana
Akshada Kulkarni utworzył ten kalkulator i 500+ więcej kalkulatorów!
Verifier Image
Zweryfikowane przez Team Softusvista
Softusvista Office (Pune), Indie
Team Softusvista zweryfikował ten kalkulator i 1100+ więcej kalkulatorów!

13 Charakterystyka półprzewodników Kalkulatory

Przewodnictwo w półprzewodnikach
​ Iść Przewodność = (Gęstość elektronów*[Charge-e]*Ruchliwość elektronów)+(Gęstość otworów*[Charge-e]*Ruchliwość otworów)
Funkcja dystrybucji Fermiego Diraca
​ Iść Funkcja dystrybucji Fermiego Diraca = 1/(1+e^((Energia poziomu Fermiego-Energia poziomu Fermiego)/([BoltZ]*Temperatura)))
Przewodność zewnętrznego półprzewodnika dla typu P
​ Iść Przewodnictwo zewnętrznych półprzewodników (typu p) = Koncentracja akceptora*[Charge-e]*Ruchliwość otworów
Przewodność zewnętrznych półprzewodników typu N
​ Iść Przewodnictwo zewnętrznych półprzewodników (typu n) = Koncentracja dawców*[Charge-e]*Ruchliwość elektronów
Długość dyfuzji elektronów
​ Iść Długość dyfuzji elektronów = sqrt(Stała dyfuzji elektronów*Dożywotni przewoźnik mniejszościowy)
Pasmo energetyczne
​ Iść Pasmo energetyczne = Pasmo energetyczne przy 0K-(Temperatura*Stała specyficzna dla materiału)
Koncentracja większości nośników w półprzewodnikach dla typu p
​ Iść Koncentracja większości nośników = Wewnętrzne stężenie nośnika^2/Koncentracja przewoźników mniejszościowych
Stężenie większości nośników w półprzewodnikach
​ Iść Koncentracja większości nośników = Wewnętrzne stężenie nośnika^2/Koncentracja przewoźników mniejszościowych
Poziom Fermiego samoistnych półprzewodników
​ Iść Samoistny półprzewodnik poziomu Fermiego = (Energia pasma przewodnictwa+Energia pasma Valance'a)/2
Mobilność nośników ładunku
​ Iść Mobilność przewoźników ładunków = Prędkość dryfu/Natężenie pola elektrycznego
Gęstość prądu dryfu
​ Iść Gęstość prądu dryfu = Gęstość prądu otworów+Gęstość prądu elektronowego
Pole elektryczne wywołane napięciem Halla
​ Iść Pole elektryczne Halla = Napięcie Halla/Szerokość przewodnika
Napięcie nasycenia za pomocą napięcia progowego
​ Iść Napięcie nasycenia = Napięcie źródła bramki-Próg napięcia

Napięcie nasycenia za pomocą napięcia progowego Formułę

Napięcie nasycenia = Napięcie źródła bramki-Próg napięcia
Vds = Vgs-Vth

Co to jest region nasycenia?

W przypadku większych odchyleń drenu prąd drenu nasyca się i staje się niezależny od odchylenia drenu. Oczywiście region ten nazywany jest obszarem nasycenia. Prąd drenu w nasyceniu pochodzi z liniowego prądu regionu, który jest parabolą z maksimum występującym przy napięciu nasycenia.

Co się dzieje, gdy wzrasta napięcie nasycenia między drenem a źródłem?

Wraz ze wzrostem Vds liczba elektronów w warstwie inwersyjnej maleje w pobliżu drenu. Dzieje się tak z dwóch powodów. Po pierwsze, ponieważ zarówno zasuwa, jak i dren są dodatnio obciążone, różnica potencjałów na tlenku jest mniejsza w pobliżu końca drenu. Ponieważ dodatni ładunek na bramce jest określony przez spadek potencjału na tlenku bramki, ładunek bramki jest mniejszy w pobliżu końca drenu. Oznacza to, że ilość ładunku ujemnego w półprzewodniku potrzebna do zachowania neutralności ładunku będzie również mniejsza w pobliżu drenu. W konsekwencji stężenie elektronów w warstwie inwersyjnej spada. Po drugie, zwiększenie napięcia na drenach zwiększa szerokość zubożenia wokół złącza drenu z odwrotną polaryzacją. Ponieważ odkrytych jest więcej ujemnych jonów akceptorowych, do zrównoważenia ładunku bramki potrzebna jest mniejsza liczba elektronów warstwy inwersyjnej. Oznacza to, że gęstość elektronów w warstwie inwersyjnej w pobliżu drenu zmniejszyłaby się, nawet gdyby gęstość ładunku na bramce była stała.

Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!