Driftstromdichte aufgrund freier Elektronen Lösung

SCHRITT 0: Zusammenfassung vor der Berechnung
Gebrauchte Formel
Driftstromdichte aufgrund von Elektronen = [Charge-e]*Elektronenkonzentration*Elektronenmobilität*Elektrische Feldstärke
Jn = [Charge-e]*n*μn*Ei
Diese formel verwendet 1 Konstanten, 4 Variablen
Verwendete Konstanten
[Charge-e] - Ladung eines Elektrons Wert genommen als 1.60217662E-19
Verwendete Variablen
Driftstromdichte aufgrund von Elektronen - (Gemessen in Ampere) - Unter Driftstromdichte durch Elektronen versteht man die Bewegung von Ladungsträgern (Elektronen) in einem Halbleitermaterial unter dem Einfluss eines elektrischen Felds.
Elektronenkonzentration - (Gemessen in Elektronen pro Kubikmeter) - Die Elektronenkonzentration bezieht sich auf die Anzahl der Elektronen pro Volumeneinheit in einem Material.
Elektronenmobilität - (Gemessen in Quadratmeter pro Volt pro Sekunde) - Elektronenmobilität beschreibt, wie schnell sich Elektronen als Reaktion auf ein elektrisches Feld durch das Material bewegen können.
Elektrische Feldstärke - (Gemessen in Volt pro Meter) - Die elektrische Feldstärke ist eine Vektorgröße, die die Kraft darstellt, die eine positive Testladung an einem bestimmten Punkt im Raum aufgrund der Anwesenheit anderer Ladungen erfährt.
SCHRITT 1: Konvertieren Sie die Eingänge in die Basiseinheit
Elektronenkonzentration: 1000000 Elektronen pro Kubikzentimeter --> 1000000000000 Elektronen pro Kubikmeter (Überprüfen sie die konvertierung ​hier)
Elektronenmobilität: 30 Quadratmeter pro Volt pro Sekunde --> 30 Quadratmeter pro Volt pro Sekunde Keine Konvertierung erforderlich
Elektrische Feldstärke: 11.2 Volt pro Meter --> 11.2 Volt pro Meter Keine Konvertierung erforderlich
SCHRITT 2: Formel auswerten
Eingabewerte in Formel ersetzen
Jn = [Charge-e]*n*μn*Ei --> [Charge-e]*1000000000000*30*11.2
Auswerten ... ...
Jn = 5.3833134432E-05
SCHRITT 3: Konvertieren Sie das Ergebnis in die Ausgabeeinheit
5.3833134432E-05 Ampere -->53.833134432 Mikroampere (Überprüfen sie die konvertierung ​hier)
ENDGÜLTIGE ANTWORT
53.833134432 53.83313 Mikroampere <-- Driftstromdichte aufgrund von Elektronen
(Berechnung in 00.005 sekunden abgeschlossen)

Credits

Creator Image
Erstellt von Banuprakash
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Bangalore
Banuprakash hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner erstellt!
Verifier Image
Geprüft von Santhosh Yadav
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore
Santhosh Yadav hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner verifiziert!

15 MOS-IC-Herstellung Taschenrechner

Schaltpunktspannung
​ Gehen Schaltpunktspannung = (Versorgungsspannung+PMOS-Schwellenspannung+NMOS-Schwellenspannung*sqrt(NMOS-Transistorverstärkung/Verstärkung des PMOS-Transistors))/(1+sqrt(NMOS-Transistorverstärkung/Verstärkung des PMOS-Transistors))
Körpereffekt im MOSFET
​ Gehen Schwellenspannung mit Substrat = Schwellenspannung mit Zero Body Bias+Körpereffektparameter*(sqrt(2*Bulk-Fermi-Potenzial+An den Körper angelegte Spannung)-sqrt(2*Bulk-Fermi-Potenzial))
Donator-Dotierstoffkonzentration
​ Gehen Donator-Dotierstoffkonzentration = (Sättigungsstrom*Transistorlänge)/([Charge-e]*Breite des Transistors*Elektronenmobilität*Kapazität der Sperrschicht)
Dotierstoffkonzentration des Akzeptors
​ Gehen Dotierstoffkonzentration des Akzeptors = 1/(2*pi*Transistorlänge*Breite des Transistors*[Charge-e]*Lochmobilität*Kapazität der Sperrschicht)
Drainstrom des MOSFET im Sättigungsbereich
​ Gehen Stromverbrauch = Transkonduktanzparameter/2*(Gate-Source-Spannung-Schwellenspannung mit Zero Body Bias)^2*(1+Modulationsfaktor der Kanallänge*Drain-Quellenspannung)
Maximale Dotierstoffkonzentration
​ Gehen Maximale Dotierstoffkonzentration = Referenzkonzentration*exp(-Aktivierungsenergie für feste Löslichkeit/([BoltZ]*Absolute Temperatur))
Ausbreitungszeit
​ Gehen Ausbreitungszeit = 0.7*Anzahl der Durchgangstransistoren*((Anzahl der Durchgangstransistoren+1)/2)*Widerstand im MOSFET*Lastkapazität
Driftstromdichte aufgrund freier Elektronen
​ Gehen Driftstromdichte aufgrund von Elektronen = [Charge-e]*Elektronenkonzentration*Elektronenmobilität*Elektrische Feldstärke
Driftstromdichte aufgrund von Löchern
​ Gehen Driftstromdichte aufgrund von Löchern = [Charge-e]*Lochkonzentration*Lochmobilität*Elektrische Feldstärke
Kanalwiderstand
​ Gehen Kanalwiderstand = Transistorlänge/Breite des Transistors*1/(Elektronenmobilität*Trägerdichte)
MOSFET-Einheitsverstärkungsfrequenz
​ Gehen Einheitsverstärkungsfrequenz im MOSFET = Transkonduktanz im MOSFET/(Gate-Source-Kapazität+Gate-Drain-Kapazität)
Kritische Dimension
​ Gehen Kritische Dimension = Prozessabhängige Konstante*Wellenlänge in der Fotolithographie/Numerische Apertur
Tiefenschärfe
​ Gehen Tiefenschärfe = Proportionalitätsfaktor*Wellenlänge in der Fotolithographie/(Numerische Apertur^2)
Die pro Wafer
​ Gehen Die pro Wafer = (pi*Waferdurchmesser^2)/(4*Größe jedes Würfels)
Äquivalente Oxiddicke
​ Gehen Äquivalente Oxiddicke = Materialstärke*(3.9/Dielektrizitätskonstante des Materials)

Driftstromdichte aufgrund freier Elektronen Formel

Driftstromdichte aufgrund von Elektronen = [Charge-e]*Elektronenkonzentration*Elektronenmobilität*Elektrische Feldstärke
Jn = [Charge-e]*n*μn*Ei
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