Tension critique CMOS Solution

ÉTAPE 0: Résumé du pré-calcul
Formule utilisée
Tension critique dans CMOS = Champ électrique critique*Libre parcours moyen
Vc = Ec*L
Cette formule utilise 3 Variables
Variables utilisées
Tension critique dans CMOS - (Mesuré en Volt) - La tension critique dans CMOS est la phase minimale par rapport à la tension neutre qui brille et apparaît tout au long du conducteur de ligne.
Champ électrique critique - (Mesuré en Volt par mètre) - Le champ électrique critique est défini comme la force électrique par unité de charge.
Libre parcours moyen - (Mesuré en Mètre) - Le libre parcours moyen est défini comme la distance moyenne parcourue par une particule en mouvement entre des impacts successifs, ce qui modifie sa direction, son énergie ou d'autres propriétés de la particule.
ÉTAPE 1: Convertir les entrées en unité de base
Champ électrique critique: 0.004 Volt par millimètre --> 4 Volt par mètre (Vérifiez la conversion ​ici)
Libre parcours moyen: 697.57 Millimètre --> 0.69757 Mètre (Vérifiez la conversion ​ici)
ÉTAPE 2: Évaluer la formule
Remplacement des valeurs d'entrée dans la formule
Vc = Ec*L --> 4*0.69757
Évaluer ... ...
Vc = 2.79028
ÉTAPE 3: Convertir le résultat en unité de sortie
2.79028 Volt --> Aucune conversion requise
RÉPONSE FINALE
2.79028 Volt <-- Tension critique dans CMOS
(Calcul effectué en 00.004 secondes)

Crédits

Creator Image
Créé par Shobhit Dimri
Institut de technologie Bipin Tripathi Kumaon (BTKIT), Dwarahat
Shobhit Dimri a créé cette calculatrice et 900+ autres calculatrices!
Verifier Image
Vérifié par Urvi Rathod
Collège d'ingénierie du gouvernement de Vishwakarma (VGEC), Ahmedabad
Urvi Rathod a validé cette calculatrice et 1900+ autres calculatrices!

15 Caractéristiques des circuits CMOS Calculatrices

Capacité effective en CMOS
​ Aller Capacité effective en CMOS = Cycle de service*(Hors courant*(10^(Tension du collecteur de base)))/(Portes sur le chemin critique*[BoltZ]*Tension du collecteur de base)
Permittivité de la couche d'oxyde
​ Aller Permittivité de la couche d'oxyde = Épaisseur de la couche d'oxyde*Capacité de la porte d'entrée/(Largeur du portail*Longueur de la porte)
Épaisseur de la couche d'oxyde
​ Aller Épaisseur de la couche d'oxyde = Permittivité de la couche d'oxyde*Largeur du portail*Longueur de la porte/Capacité de la porte d'entrée
Largeur de la porte
​ Aller Largeur du portail = Capacité de la porte d'entrée/(Capacité de la couche d'oxyde de grille*Longueur de la porte)
Périmètre de la paroi latérale de diffusion de la source
​ Aller Périmètre de paroi latérale de diffusion de la source = (2*Largeur de transition)+(2*Longueur de la source)
Largeur de la région d'appauvrissement
​ Aller Largeur de la région d'épuisement = Longueur de jonction PN-Longueur effective du canal
Largeur de transition du CMOS
​ Aller Largeur de transition = Capacité de chevauchement de porte MOS/Capacité de la porte MOS
Longueur effective du canal
​ Aller Longueur effective du canal = Longueur de jonction PN-Largeur de la région d'épuisement
Longueur de jonction PN
​ Aller Longueur de jonction PN = Largeur de la région d'épuisement+Longueur effective du canal
Champ électrique critique
​ Aller Champ électrique critique = (2*Saturation de la vitesse)/Mobilité de l'électron
Largeur de diffusion de la source
​ Aller Largeur de transition = Zone de diffusion de la source/Longueur de la source
Zone de diffusion de la source
​ Aller Zone de diffusion de la source = Longueur de la source*Largeur de transition
CMOS Moyenne Parcours Libre
​ Aller Libre parcours moyen = Tension critique dans CMOS/Champ électrique critique
Tension critique CMOS
​ Aller Tension critique dans CMOS = Champ électrique critique*Libre parcours moyen
Tension au minimum EDP
​ Aller Tension à l'EDP minimum = (3*Tension de seuil)/(3-Facteur d'activité)

Tension critique CMOS Formule

Tension critique dans CMOS = Champ électrique critique*Libre parcours moyen
Vc = Ec*L

Qu'est-ce que la dégradation de la mobilité ?

Une haute tension à la grille du transistor attire les porteurs vers le bord du canal, provoquant des collisions avec l'interface oxyde qui ralentissent les porteurs. C'est ce qu'on appelle la dégradation de la mobilité.

Qu'est-ce que la saturation de vitesse ?

Les porteurs approchent une vitesse maximale vsat lorsque des champs élevés sont appliqués. Ce phénomène est appelé saturation de vitesse.

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