✖La densité de dopage des parois latérales fait référence à la concentration d'atomes dopants le long des parois latérales de la structure du transistor.ⓘ Densité de dopage des parois latérales [NA(sw)] | | | +10% -10% |
✖La concentration dopante du donneur fait référence à la concentration d’atomes donneurs intentionnellement ajoutés à un matériau semi-conducteur.ⓘ Concentration dopante du donneur [ND] | | | +10% -10% |
✖Le potentiel intégré des jonctions des parois latérales fait référence à la jonction formée le long des surfaces verticales ou des parois latérales de la structure du transistor.ⓘ Potentiel intégré des jonctions des parois latérales [Φosw] | | | +10% -10% |