Умереть на пластину Решение

ШАГ 0: Сводка предварительного расчета
Используемая формула
Умереть на пластину = (pi*Диаметр пластины^2)/(4*Размер каждой матрицы)
DPW = (pi*dw^2)/(4*Sd)
В этой формуле используются 1 Константы, 3 Переменные
Используемые константы
pi - постоянная Архимеда Значение, принятое как 3.14159265358979323846264338327950288
Используемые переменные
Умереть на пластину - Die Per Wafer означает количество штампов, которые можно изготовить из одной пластины.
Диаметр пластины - (Измеряется в метр) - Диаметр пластины относится к размеру кремниевых пластин, используемых в процессе производства полупроводников. Эти пластины служат основным материалом, на котором изготавливаются полупроводниковые устройства.
Размер каждой матрицы - (Измеряется в Квадратный метр) - Размер каждого кристалла относится к физическим размерам отдельного полупроводникового чипа или интегральной схемы (ИС), изготовленного на кремниевой пластине.
ШАГ 1. Преобразование входов в базовый блок
Диаметр пластины: 150 Миллиметр --> 0.15 метр (Проверьте преобразование ​здесь)
Размер каждой матрицы: 22 Площадь Миллиметр --> 2.2E-05 Квадратный метр (Проверьте преобразование ​здесь)
ШАГ 2: Оцените формулу
Подстановка входных значений в формулу
DPW = (pi*dw^2)/(4*Sd) --> (pi*0.15^2)/(4*2.2E-05)
Оценка ... ...
DPW = 803.248121656481
ШАГ 3: Преобразуйте результат в единицу вывода
803.248121656481 --> Конверсия не требуется
ОКОНЧАТЕЛЬНЫЙ ОТВЕТ
803.248121656481 803.2481 <-- Умереть на пластину
(Расчет завершен через 00.004 секунд)

Кредиты

Creator Image
Сделано банупракаш
Инженерный колледж Даянанда Сагар (ДСКЭ), Бангалор
банупракаш создал этот калькулятор и еще 50+!
Verifier Image
Проверено Сантош Ядав
Инженерный колледж Даянанды Сагара (ДСКЭ), Банглор
Сантош Ядав проверил этот калькулятор и еще 50+!

15 Изготовление МОП-ИС Калькуляторы

Напряжение точки переключения
​ Идти Напряжение точки переключения = (Напряжение питания+Пороговое напряжение PMOS+Пороговое напряжение NMOS*sqrt(Коэффициент усиления NMOS-транзистора/Коэффициент усиления PMOS-транзистора))/(1+sqrt(Коэффициент усиления NMOS-транзистора/Коэффициент усиления PMOS-транзистора))
Эффект тела в MOSFET
​ Идти Пороговое напряжение с подложкой = Пороговое напряжение с нулевым смещением тела+Параметр эффекта тела*(sqrt(2*Объемный потенциал Ферми+Напряжение, приложенное к телу)-sqrt(2*Объемный потенциал Ферми))
Концентрация донорской легирующей примеси
​ Идти Концентрация донорской легирующей примеси = (Ток насыщения*Длина транзистора)/([Charge-e]*Ширина транзистора*Электронная подвижность*Емкость слоя обеднения)
Ток стока MOSFET в области насыщения
​ Идти Ток стока = Параметр крутизны/2*(Напряжение источника затвора-Пороговое напряжение с нулевым смещением тела)^2*(1+Коэффициент модуляции длины канала*Напряжение источника стока)
Концентрация акцепторной примеси
​ Идти Концентрация акцепторной примеси = 1/(2*pi*Длина транзистора*Ширина транзистора*[Charge-e]*Мобильность отверстий*Емкость слоя обеднения)
Максимальная концентрация легирующей примеси
​ Идти Максимальная концентрация легирующей примеси = Эталонная концентрация*exp(-Энергия активации твердой растворимости/([BoltZ]*Абсолютная температура))
Время распространения
​ Идти Время распространения = 0.7*Количество проходных транзисторов*((Количество проходных транзисторов+1)/2)*Сопротивление в МОП-транзисторе*Емкость нагрузки
Плотность дрейфового тока, обусловленная свободными электронами
​ Идти Плотность дрейфового тока, обусловленная электронами = [Charge-e]*Электронная концентрация*Электронная подвижность*Напряженность электрического поля
Плотность дрейфового тока из-за дырок
​ Идти Плотность дрейфового тока из-за дырок = [Charge-e]*Концентрация дырок*Мобильность отверстий*Напряженность электрического поля
Сопротивление канала
​ Идти Сопротивление канала = Длина транзистора/Ширина транзистора*1/(Электронная подвижность*Плотность носителей)
Частота MOSFET с единичным коэффициентом усиления
​ Идти Частота единичного усиления в MOSFET = Крутизна МОП-транзистора/(Емкость источника затвора+Емкость стока затвора)
Критическое измерение
​ Идти Критическое измерение = Зависимая от процесса константа*Длина волны в фотолитографии/Числовая апертура
Глубина фокуса
​ Идти Глубина фокуса = Коэффициент пропорциональности*Длина волны в фотолитографии/(Числовая апертура^2)
Умереть на пластину
​ Идти Умереть на пластину = (pi*Диаметр пластины^2)/(4*Размер каждой матрицы)
Эквивалентная толщина оксида
​ Идти Эквивалентная толщина оксида = Толщина материала*(3.9/Диэлектрическая проницаемость материала)

Умереть на пластину формула

Умереть на пластину = (pi*Диаметр пластины^2)/(4*Размер каждой матрицы)
DPW = (pi*dw^2)/(4*Sd)
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!