Dryf gęstości prądu z powodu dziur Kalkulator

↳

Elektronika

Cywilny

Elektronika i oprzyrządowanie

Elektryczny

Inżynieria chemiczna

Inżynieria materiałowa

Inżynieria produkcji

Mechaniczny

⤿

Produkcja układów scalonych MOS

Produkcja bipolarnych układów scalonych

Wyzwalacz Schmitta

✖Stężenie dziur odnosi się do liczby elektronów na jednostkę objętości materiału.ⓘ Zagęszczenie dziur [p]			+10% -10%
✖Mobilność dziur reprezentuje zdolność tych nośników ładunku do poruszania się w odpowiedzi na pole elektryczne.ⓘ Mobilność dziury [μ_p]			+10% -10%
✖Natężenie pola elektrycznego jest wielkością wektorową reprezentującą siłę wywieraną przez dodatni ładunek próbny w danym punkcie przestrzeni ze względu na obecność innych ładunków.ⓘ Natężenie pola elektrycznego [E_i]			+10% -10%

✖Gęstość prądu dryfu spowodowana dziurami odnosi się do ruchu nośników ładunku (dziur) w materiale półprzewodnikowym pod wpływem pola elektrycznego.ⓘ Dryf gęstości prądu z powodu dziur [J_p]

⎘ Kopiuj

👎

Formuła

✖

Dryf gęstości prądu z powodu dziur

Formuła

`"J"_{"p"} = "[Charge-e]"*"p"*"μ"_{"p"}*"E"_{"i"}`

Przykład

`"0.071778A/mm²"="[Charge-e]"*"1E^20electrons/m³"*"400m²/V*s"*"11.2V/m"`

Kalkulator

LaTeX

Resetowanie

👍

Pobierać Produkcja układów scalonych MOS Formuły PDF PDF Image

Dryf gęstości prądu z powodu dziur Rozwiązanie

KROK 0: Podsumowanie wstępnych obliczeń

Formułę używana

Dryf gęstości prądu z powodu dziur = [Charge-e]*Zagęszczenie dziur*Mobilność dziury*Natężenie pola elektrycznego
J_p = [Charge-e]*p*μ_p*E_i
Ta formuła używa 1 Stałe, 4 Zmienne

Używane stałe

[Charge-e] - Ładunek elektronu Wartość przyjęta jako 1.60217662E-19

Używane zmienne

Dryf gęstości prądu z powodu dziur - (Mierzone w Amper na metr kwadratowy) - Gęstość prądu dryfu spowodowana dziurami odnosi się do ruchu nośników ładunku (dziur) w materiale półprzewodnikowym pod wpływem pola elektrycznego.
Zagęszczenie dziur - (Mierzone w Elektrony na metr sześcienny) - Stężenie dziur odnosi się do liczby elektronów na jednostkę objętości materiału.
Mobilność dziury - (Mierzone w Metr kwadratowy na wolt na sekundę) - Mobilność dziur reprezentuje zdolność tych nośników ładunku do poruszania się w odpowiedzi na pole elektryczne.
Natężenie pola elektrycznego - (Mierzone w Wolt na metr) - Natężenie pola elektrycznego jest wielkością wektorową reprezentującą siłę wywieraną przez dodatni ładunek próbny w danym punkcie przestrzeni ze względu na obecność innych ładunków.

KROK 1: Zamień wejście (a) na jednostkę bazową

Zagęszczenie dziur: 1E+20 Elektrony na metr sześcienny --> 1E+20 Elektrony na metr sześcienny Nie jest wymagana konwersja
Mobilność dziury: 400 Metr kwadratowy na wolt na sekundę --> 400 Metr kwadratowy na wolt na sekundę Nie jest wymagana konwersja
Natężenie pola elektrycznego: 11.2 Wolt na metr --> 11.2 Wolt na metr Nie jest wymagana konwersja

KROK 2: Oceń formułę

Zastępowanie wartości wejściowych we wzorze

J_p = [Charge-e]*p*μ_p*E_i --> [Charge-e]*1E+20*400*11.2

Ocenianie ... ...

J_p = 71777.512576

KROK 3: Konwertuj wynik na jednostkę wyjścia

71777.512576 Amper na metr kwadratowy -->0.071777512576 Amper na milimetr kwadratowy (Sprawdź konwersję tutaj)

OSTATNIA ODPOWIEDŹ

0.071777512576 ≈ 0.071778 Amper na milimetr kwadratowy <-- Dryf gęstości prądu z powodu dziur

(Obliczenie zakończone za 00.004 sekund)

Jesteś tutaj -

Dom » Inżynieria » Elektronika » Układy scalone (IC) » Produkcja układów scalonych MOS » Dryf gęstości prądu z powodu dziur

Kredyty

Stworzone przez banuprakasz

Szkoła Inżynierska Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore

banuprakasz utworzył ten kalkulator i 50+ więcej kalkulatorów!

Zweryfikowane przez Santhosh Yadav

Szkoła Inżynierska Dayananda Sagar (DSCE), Banglore

Santhosh Yadav zweryfikował ten kalkulator i 50+ więcej kalkulatorów!

< 15 Produkcja układów scalonych MOS Kalkulatory

Napięcie punktu przełączania

Iść Napięcie punktu przełączania = (Napięcie zasilania+Napięcie progowe PMOS+Napięcie progowe NMOS*sqrt(Wzmocnienie tranzystora NMOS/Wzmocnienie tranzystora PMOS))/(1+sqrt(Wzmocnienie tranzystora NMOS/Wzmocnienie tranzystora PMOS))

Efekt ciała w MOSFET-ie

Iść Napięcie progowe z podłożem = Napięcie progowe przy zerowym odchyleniu ciała+Parametr efektu ciała*(sqrt(2*Masowy potencjał Fermiego+Napięcie przyłożone do korpusu)-sqrt(2*Masowy potencjał Fermiego))

Prąd drenu MOSFET-u w obszarze nasycenia

Iść Prąd spustowy = Parametr transkonduktancji/2*(Napięcie źródła bramki-Napięcie progowe przy zerowym odchyleniu ciała)^2*(1+Współczynnik modulacji długości kanału*Napięcie źródła drenu)

Stężenie domieszki dawcy

Iść Stężenie domieszki dawcy = (Prąd nasycenia*Długość tranzystora)/([Charge-e]*Szerokość tranzystora*Mobilność elektronów*Pojemność warstwy zubożonej)

Stężenie domieszki akceptorowej

Iść Stężenie domieszki akceptorowej = 1/(2*pi*Długość tranzystora*Szerokość tranzystora*[Charge-e]*Mobilność dziury*Pojemność warstwy zubożonej)

Maksymalne stężenie domieszki

Iść Maksymalne stężenie domieszki = Stężenie referencyjne*exp(-Energia aktywacji dla rozpuszczalności substancji stałych/([BoltZ]*Temperatura absolutna))

Czas propagacji

Iść Czas propagacji = 0.7*Liczba tranzystorów przejściowych*((Liczba tranzystorów przejściowych+1)/2)*Oporność w MOSFET-ie*Pojemność obciążenia

Dryf gęstości prądu ze względu na swobodne elektrony

Iść Dryf gęstości prądu ze względu na elektrony = [Charge-e]*Stężenie elektronów*Mobilność elektronów*Natężenie pola elektrycznego

Dryf gęstości prądu z powodu dziur

Iść Dryf gęstości prądu z powodu dziur = [Charge-e]*Zagęszczenie dziur*Mobilność dziury*Natężenie pola elektrycznego

Rezystancja kanału

Iść Rezystancja kanału = Długość tranzystora/Szerokość tranzystora*1/(Mobilność elektronów*Gęstość nośnika)

Częstotliwość wzmocnienia jedności MOSFET

Iść Częstotliwość wzmocnienia jedności w MOSFET-ie = Transkonduktancja w MOSFET-ie/(Pojemność źródła bramki+Pojemność drenu bramki)

Głębia ostrości

Iść Głębia ostrości = Czynnik proporcjonalności*Długość fali w fotolitografii/(Przysłona numeryczna^2)

Wymiar krytyczny

Iść Wymiar krytyczny = Stała zależna od procesu*Długość fali w fotolitografii/Przysłona numeryczna

Umrzyj na opłatek

Iść Umrzyj na opłatek = (pi*Średnica wafla^2)/(4*Rozmiar każdej kostki)

Równoważna grubość tlenku

Iść Równoważna grubość tlenku = Grubość materiału*(3.9/Stała dielektryczna materiału)

Dryf gęstości prądu z powodu dziur Formułę

Dryf gęstości prądu z powodu dziur = [Charge-e]*Zagęszczenie dziur*Mobilność dziury*Natężenie pola elektrycznego
J_p = [Charge-e]*p*μ_p*E_i

Dom

BEZPŁATNY pliki PDF

🔍 Szukaj

Kategorie

Dzielić

Let Others Know

✖

Facebook

Twitter

Copied!