Kritisches elektrisches Feld Lösung

SCHRITT 0: Zusammenfassung vor der Berechnung
Gebrauchte Formel
Kritisches elektrisches Feld = (2*Geschwindigkeitssättigung)/Mobilität des Elektrons
Ec = (2*Vsat)/µe
Diese formel verwendet 3 Variablen
Verwendete Variablen
Kritisches elektrisches Feld - (Gemessen in Volt pro Meter) - Das kritische elektrische Feld ist definiert als die elektrische Kraft pro Ladungseinheit.
Geschwindigkeitssättigung - (Gemessen in Meter pro Sekunde) - Geschwindigkeitssättigung ist das Phänomen, bei dem sich Träger einer maximalen Geschwindigkeit vsat nähern, wenn hohe Felder angelegt werden.
Mobilität des Elektrons - (Gemessen in Quadratmeter pro Volt pro Sekunde) - Die Mobilität von Elektronen ist definiert als die Größe der durchschnittlichen Driftgeschwindigkeit pro elektrischer Feldeinheit.
SCHRITT 1: Konvertieren Sie die Eingänge in die Basiseinheit
Geschwindigkeitssättigung: 10.12 Millimeter / Sekunde --> 0.01012 Meter pro Sekunde (Überprüfen sie die konvertierung hier)
Mobilität des Elektrons: 49.8 Quadratzentimeter pro Voltsekunde --> 0.00498 Quadratmeter pro Volt pro Sekunde (Überprüfen sie die konvertierung hier)
SCHRITT 2: Formel auswerten
Eingabewerte in Formel ersetzen
Ec = (2*Vsat)/µe --> (2*0.01012)/0.00498
Auswerten ... ...
Ec = 4.06425702811245
SCHRITT 3: Konvertieren Sie das Ergebnis in die Ausgabeeinheit
4.06425702811245 Volt pro Meter -->0.00406425702811245 Volt pro Millimeter (Überprüfen sie die konvertierung hier)
ENDGÜLTIGE ANTWORT
0.00406425702811245 0.004064 Volt pro Millimeter <-- Kritisches elektrisches Feld
(Berechnung in 00.004 sekunden abgeschlossen)

Credits

Erstellt von Shobhit Dimri
Bipin Tripathi Kumaon Institut für Technologie (BTKIT), Dwarahat
Shobhit Dimri hat diesen Rechner und 900+ weitere Rechner erstellt!
Geprüft von Urvi Rathod
Vishwakarma Government Engineering College (VGEC), Ahmedabad
Urvi Rathod hat diesen Rechner und 1900+ weitere Rechner verifiziert!

15 Eigenschaften der CMOS-Schaltung Taschenrechner

Effektive Kapazität im CMOS
Gehen Effektive Kapazität im CMOS = Auslastungsgrad*(Aus Strom*(10^(Basiskollektorspannung)))/(Gates auf kritischem Weg*[BoltZ]*Basiskollektorspannung)
Permittivität der Oxidschicht
Gehen Permittivität der Oxidschicht = Dicke der Oxidschicht*Eingangs-Gate-Kapazität/(Torbreite*Länge des Tors)
Dicke der Oxidschicht
Gehen Dicke der Oxidschicht = Permittivität der Oxidschicht*Torbreite*Länge des Tors/Eingangs-Gate-Kapazität
Breite des Tors
Gehen Torbreite = Eingangs-Gate-Kapazität/(Kapazität der Gate-Oxidschicht*Länge des Tors)
Kritisches elektrisches Feld
Gehen Kritisches elektrisches Feld = (2*Geschwindigkeitssättigung)/Mobilität des Elektrons
Seitenwandumfang der Quelldiffusion
Gehen Seitenwandumfang der Quellendiffusion = (2*Übergangsbreite)+(2*Länge der Quelle)
CMOS mittlerer freier Pfad
Gehen Mittlerer freier Pfad = Kritische Spannung im CMOS/Kritisches elektrisches Feld
Kritische CMOS-Spannung
Gehen Kritische Spannung im CMOS = Kritisches elektrisches Feld*Mittlerer freier Pfad
Breite des Verarmungsbereichs
Gehen Breite der Verarmungsregion = PN-Verbindungslänge-Effektive Kanallänge
Effektive Kanallänge
Gehen Effektive Kanallänge = PN-Verbindungslänge-Breite der Verarmungsregion
PN-Verbindungslänge
Gehen PN-Verbindungslänge = Breite der Verarmungsregion+Effektive Kanallänge
Spannung bei minimaler EDV
Gehen Spannung bei minimaler EDP = (3*Grenzspannung)/(3-Aktivitätsfaktor)
Übergangsbreite des CMOS
Gehen Übergangsbreite = MOS-Gate-Überlappungskapazität/MOS-Gate-Kapazität
Bereich der Quellendiffusion
Gehen Bereich der Quellendiffusion = Länge der Quelle*Übergangsbreite
Breite der Quellendiffusion
Gehen Übergangsbreite = Bereich der Quellendiffusion/Länge der Quelle

Kritisches elektrisches Feld Formel

Kritisches elektrisches Feld = (2*Geschwindigkeitssättigung)/Mobilität des Elektrons
Ec = (2*Vsat)/µe

Was ist Geschwindigkeitssättigung?

Die Geschwindigkeitssättigung ist die maximale Geschwindigkeit, die ein Ladungsträger in einem Halbleiter, im Allgemeinen ein Elektron, in Gegenwart sehr hoher elektrischer Felder erreicht. In diesem Fall befindet sich der Halbleiter in einem Zustand der Geschwindigkeitssättigung.

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