Eficiencia de inyección del emisor dadas las constantes de dopaje Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Eficiencia de inyección del emisor = Dopaje en el lado N/(Dopaje en el lado N+Dopaje en el lado P)
γ = Ndn/(Ndn+Ndp)
Esta fórmula usa 3 Variables
Variables utilizadas
Eficiencia de inyección del emisor - La eficiencia de inyección del emisor es la relación entre la corriente de electrones que fluye en el emisor y la corriente total a través de la unión de la base del emisor.
Dopaje en el lado N - (Medido en 1 por metro cúbico) - El dopaje en el lado N se refiere al proceso de introducir tipos específicos de impurezas en la región semiconductora de tipo N de un dispositivo semiconductor.
Dopaje en el lado P - (Medido en 1 por metro cúbico) - El dopaje en el lado P se refiere al proceso de introducir tipos específicos de impurezas en la región semiconductora de tipo P de un dispositivo semiconductor.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Dopaje en el lado N: 4.8 1 por centímetro cúbico --> 4800000 1 por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
Dopaje en el lado P: 1.8 1 por centímetro cúbico --> 1800000 1 por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
γ = Ndn/(Ndn+Ndp) --> 4800000/(4800000+1800000)
Evaluar ... ...
γ = 0.727272727272727
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
0.727272727272727 --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
0.727272727272727 0.727273 <-- Eficiencia de inyección del emisor
(Cálculo completado en 00.020 segundos)

Créditos

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Creado por Banu Prakash LinkedIn Logo
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
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Verificada por Santhosh Yadav LinkedIn Logo
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), banglore
¡Santhosh Yadav ha verificado esta calculadora y 50+ más calculadoras!

Fabricación de circuitos integrados bipolares Calculadoras

Conductividad de tipo N
​ LaTeX ​ Vamos Conductividad óhmica = Cargar*(Movilidad del silicio con dopaje electrónico*Concentración de equilibrio de tipo N+Movilidad de silicio con dopaje de orificios*(Concentración intrínseca^2/Concentración de equilibrio de tipo N))
Conductividad óhmica de la impureza
​ LaTeX ​ Vamos Conductividad óhmica = Cargar*(Movilidad del silicio con dopaje electrónico*Concentración de electrones+Movilidad de silicio con dopaje de orificios*Concentración de agujeros)
Impureza con concentración intrínseca
​ LaTeX ​ Vamos Concentración intrínseca = sqrt((Concentración de electrones*Concentración de agujeros)/Impureza de temperatura)
Voltaje de ruptura del emisor colector
​ LaTeX ​ Vamos Voltaje de ruptura del emisor del colector = Voltaje de ruptura de la base del colector/(Ganancia actual de BJT)^(1/Número raíz)

Eficiencia de inyección del emisor dadas las constantes de dopaje Fórmula

​LaTeX ​Vamos
Eficiencia de inyección del emisor = Dopaje en el lado N/(Dopaje en el lado N+Dopaje en el lado P)
γ = Ndn/(Ndn+Ndp)
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